[发明专利]光源测试装置

说明书

一种光源测试装置包含多个光通道、入光模块、出光模块、取像装置以及影像分析模块。各个光通道的一端分别朝向多个待测光源的其中之一。入光模块设置于邻近多个待测光源的位置，固定多个光通道，使各个光通道的一端分别朝向多个待测光源的其中之一。出光模块设置于入光模块相对于多个待测光源的另一侧，固定多个光通道，其中，多个待测光源发出的光线由各个光通道朝向多个待测光源的一端进入，并由靠近出光模块的另一端离开。取像装置对各个光通道的另一端取像以取得影像信号。影像分析模块耦接取像装置，接收并分析影像信号。

技术领域

本发明涉及一种光源测试装置。

背景技术

发光二极管(Light-emitted diode，LED)是一种能发光的半导体元件，主要结构包含晶粒、封装体、导线、支架等。作为光源使用，发光二极管具有效率高、寿命长、不易破损、反应速度快、可靠性高等优点。

传统测试发光二极管的作法是以人工方式逐粒通电检视，效率低且成本高。此外，检查已安装在产品上的多颗发光二极管时，还可能因为发光二极管位于不同表面而有疏漏未检查到的情况发生。综上，如何改善发光二极管的测试效率即为待思考的课题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种光源测试装置，可改善包含发光二极管在内的光源的测试效率。

本发明的光源测试装置包含多个光通道、入光模块、出光模块、取像装置以及影像分析模块。各光通道的一端分别朝向多个待测光源的其中之一。入光模块设置于邻近多个待测光源的位置，入光模块固定所述多个光信道。出光模块设置于入光模块接近多个待测光源的一侧的另一侧，出光模块固定多个光通道，其中，多个待测光源发出的光线由各光通道朝向多个待测光源的该端进入，并由靠近出光模块的另一端离开。取像装置用以对各光通道的另一端取像以取得影像信号。影像分析模块耦接取像装置，接收并分析影像信号。

于本发明的实施例中，入光模块包含分别与多个待测光源对应的多个入光孔。各光通道的一端分别连接至入光模块的多个入光孔的其中之一，且朝向多个待测光源的其中之一。出光模块包含多个出光孔，各光通道的另一端分别由出光模块的第一侧穿入多个出光孔的其中之一，且朝向出光模块的第二侧。取像装置对第二侧取像以取得影像信号。

于本发明的实施例中，光源测试装置进一步包含暗箱，其中入光模块及影像分析模块设置于暗箱外，出光模块及取像装置设置于暗箱内，多个光通道穿过暗箱并连接入光模块及出光模块，信号线穿过暗箱并耦接取像装置及影像分析模块。

于本发明的实施例中，多个待测光源包含多个发光二极管。

于本发明的实施例中，多个待测光源设置于平面基板上。

于本发明的实施例中，多个待测光源设置于电子装置的相同侧表面。

于本发明的实施例中，多个待测光源设置于电子装置的不同侧表面。

于本发明的实施例中，入光模块包含盖板，多个入光孔设置于盖板。

于本发明的实施例中，入光模块包含多个可相互拼接的盖板，多个盖板中的每一个至少包含多个入光孔的其中之一。

于本发明的实施例中，出光模块包含平面基板。

于本发明的实施例中，多个待测光源设置于电子装置的外表面，光源测试装置还包含夹治具，夹治具将入光模块固定于外表面，使多个入光孔对应多个待测光源。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1A为本发明实施例的示意图；

图1B为出光模块的实施例示意图；

图2A为入光模块贴近待测光源的实施例示意图；