[发明专利]一种基于硬卡编程的玻璃表面缺陷的检测方法及装置

权利要求书

1.一种基于硬卡编程的玻璃表面缺陷的检测方法，其特征在于，包括：

硬卡对原始图像进行图像处理，分别得到透射明场全图像、透射暗场全图像和反射明场全图像；

所述硬卡分别对所述透射明场全图像和所述透射暗场全图像进行缺陷检测，分别得到透射明场检测结果图像和透射暗场检测结果图像；

图像处理单元IPU根据所述透射明场检测结果图像、所述透射暗场检测结果图像和反射明场检测结果图像，得到表面缺陷图像，所述反射明场检测结果图像是由所述图像处理单元IPU对所述反射明场全图像进行缺陷检测得到的；

图像控制工作站ICW对所述表面缺陷图像中的表面缺陷进行分类；

所述硬卡对所述透射暗场全图像进行缺陷检测，得到透射暗场检测结果图像的步骤包括：

对所述透射暗场全图像进行中值滤波，得到中值滤波图像；

对所述中值滤波图像进行均值滤波，得到均值滤波图像；

对所述中值滤波图像和所述均值滤波图像进行差分运算，得到第一差分运算图像；

对所述第一差分运算图像进行二值化处理，得到二值化图像Diff0；

对所述中值滤波图像进行最小值滤波，得到最小值滤波图像；

对所述中值滤波图像和所述最小值滤波图像进行差分运算，得到第二差分运算图像；对所述第二差分运算图像进行二值化处理，得到二值化图像Diff1；

对所述二值化图像Diff0进行最大值滤波，得到最大值滤波图像；

对所述二值化图像Diff1和所述最大值滤波图像进行与运算，得到结果图像；

对所述最大值滤波图像和所述结果图像进行或运算，得到透射暗场检测结果图像。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述硬卡对原始图像进行图像处理，分别得到透射明场全图像、透射暗场全图像和反射明场全图像的步骤包括：

拼接原始图像，得到拼接图像；

对所述拼接图像进行模式重排，得到重排图像；

对所述重排图像进行模式融合，得到透射明场全图像、透射暗场全图像和反射明场全图像。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述拼接原始图像，得到拼接图像的步骤包括：

确定先获取的原始图像中的4096*1000尺寸的图像作为第一图像，和后获取的原始图像中的4096*1000尺寸的图像作为第二图像，所述原始图像的尺寸为4096*5000；

将所述第一图像从先获取的原始图像中移除，得到不包含第一图像的尺寸为4096*5000的原始图像；

将移除第一图像后的先获取的原始图像与第二图像拼接，得到拼接图像，所述拼接图像的尺寸为4096*6000。

4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，对所述拼接图像进行模式重排，得到重排图像的步骤包括：

获取所述拼接图像中的透射明场数据、透射暗场数据、低角度透射暗场数据和反射明场数据；

将所述透射明场数据组合成透射明场子图像、所述透射暗场数据组合成透射暗场子图像、所述低角度透射暗场数据组合成低角度透射暗场子图像和所述反射明场数据组合成反射明场子图像；

将所述透射明场子图像、所述透射暗场子图像、所述低角度透射暗场子图像和所述反射明场子图像组合，得到重排图像。

5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，对所述重排图像进行模式融合，得到透射明场全图像、透射暗场全图像和反射明场全图像的步骤包括：

拷贝重排图像中所述透射明场子图像，得到透射明场全图像；

提取重排图像中所述透射暗场子图像的部分图像，分别作为近暗场图像和远暗场图像；

将所述近暗场图像、所述远暗场图像和所述低角度透射暗场子图像融合成透射暗场全图像；

提取重排图像中所述反射明场子图像的部分图像，分别作为反射明场子图像g1、反射明场子图像g2和反射明场子图像g3；

将所述反射明场子图像g1、所述反射明场子图像g2和所述反射明场子图像g3融合成反射明场全图像。