[发明专利]一种电子产品测试系统在审
申请号: | 201811369394.2 | 申请日: | 2018-11-16 |
公开(公告)号: | CN109307818A | 公开(公告)日: | 2019-02-05 |
发明(设计)人: | 王志纯 | 申请(专利权)人: | 合肥景彰科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G05B19/042;G08C17/02 |
代理公司: | 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 | 代理人: | 苏友娟 |
地址: | 230000 安徽省合肥市肥*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 控制器 电子产品测试 数据存储模块 数据整合模块 反馈模块 驱动模块 存储 数据发送模块 无线通信模块 测试流程 测试系统 测试指令 测试周期 反馈数据 流程记录 数据整合 通讯模块 信息沟通 移动终端 上位机 整合 自动化 测试 驱动 记录 | ||
本发明涉及测试系统,具体涉及一种电子产品测试系统,包括控制器,与控制器相连的用于下发测试指令的上位机,与控制器相连的用于驱动执行模块的驱动模块,与控制器相连的用于记录整个测试流程的流程记录模块,与控制器相连的用于存储反馈模块反馈数据的数据存储模块,与控制器相连的用于将数据存储模块中存储的数据整合成图表的数据整合模块,控制器通过无线通信模块与反馈模块相连,控制器通过数据发送模块将数据整合模块整合得到的图表发送到移动终端,驱动模块通过通讯模块与执行模块相连;本发明所提供的技术方案能够有效克服现有技术所存在的自动化程度交底、测试周期较长、缺乏与测试者之间信息沟通的缺陷。
技术领域
本发明涉及测试系统,具体涉及一种电子产品测试系统。
背景技术
随着科技的进步和生产的发展,人们对电子测量提出了越来越高的要求,特别是电子计算机的广泛应用,在各个领域引起了一连串的变革。测试内容日趋复杂,测试工作量急剧增加,对测试设备在功能、性能、测试速度、测试准确度等方面的需求也日趋提高。
然而,目前市面上电子产品测试系统无法满足大批量产品的测试要求,自动化程度较低,测试周期较长,严重影响产品交付周期。此外,现有的电子产品测试系统无法让测试者详细了解测试内容及测试结果,缺乏与测试者之间的信息沟通。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术所存在的上述缺点,本发明提供了一种电子产品测试系统,能够有效克服现有技术所存在的自动化程度交底、测试周期较长、缺乏与测试者之间信息沟通的缺陷。
(二)技术方案
为实现以上目的,本发明通过以下技术方案予以实现:
一种电子产品测试系统,包括控制器,与所述控制器相连的用于下发测试指令的上位机,与所述控制器相连的用于驱动执行模块的驱动模块,与所述控制器相连的用于记录整个测试流程的流程记录模块,与所述控制器相连的用于存储反馈模块反馈数据的数据存储模块,与所述控制器相连的用于将数据存储模块中存储的数据整合成图表的数据整合模块;
所述控制器通过无线通信模块与反馈模块相连,所述控制器通过数据发送模块将数据整合模块整合得到的图表发送到移动终端,所述驱动模块通过通讯模块与执行模块相连。
优选地,所述执行模块为与上位机下发测试指令相对应的执行装置。
优选地,所述通讯模块为I/O模块。
优选地,所述无线通信模块为zigbee模块。
优选地,所述反馈模块为与上位机下发测试指令相对应的传感器。
优选地,所述流程记录模块用于记录缺陷状态、缺陷描述、提交人、提交时间、处理人、处理描述、处理时间、验证人、验证结果描述、验证时间。
优选地,所述数据整合模块整合得到的图表包括缺陷状态、缺陷描述、已修复缺陷数量、未修复缺陷数量、当日新增缺陷信息。
优选地,所述数据整合模块整合得到的图表包括缺陷趋势图、缺陷分布图、缺陷处理情况统计表。
优选地,所述数据发送模块在发送数据整合模块整合得到的图表时,同时发送相关提醒信息。
优选地,所述相关提醒信息包括缺陷待处理提醒、缺陷处理超时提醒、缺陷状态变化提醒。
(三)有益效果
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