[发明专利]MR装置中的自动故障检测有效
申请号: | 201811374349.6 | 申请日: | 2018-11-19 |
公开(公告)号: | CN109805932B | 公开(公告)日: | 2023-04-14 |
发明(设计)人: | A.德奥利维拉;G.戈特勒;A.P.基拉利 | 申请(专利权)人: | 西门子保健有限责任公司 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张贵东 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | mr 装置 中的 自动 故障 检测 | ||
1.一种自动故障分析方法,用于在操作期间提供医学成像设备(D)的故障原因,包括以下步骤:
读取由所述成像设备(D)获取的输入数据,所述输入数据包括原始数据(rd)或图像数据(i);
在输入数据中计算性能指标(KPI)集;
使用计算的性能指标(KPI)接入经训练的神经网络系统(t-ANN),以便提供结果数据(r),在发生故障的情况下,该结果数据包括故障源,
其中性能指标(KPI)包括:
每通道的平均信号;
最高相对FFT峰值;
平均SNR。
2.根据权利要求1所述的方法,其中提供结果数据(r)包括关于概率测量对故障源进行分类。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,通过直接从原始数据(rd)中并且在图像(i)重建之前提取性能指标(KPI)来自动执行计算。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,通过应用性能测量算法来自动执行计算。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,所述方法还包括:
观察性能指标(KPI)随时间的变化;
并且其中利用所观察到的性能指标(KPI)的变化接入经训练的神经网络系统(t-ANN)。
6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中为性能指标(KPI)集或性能指标(KPI)随时间的变化训练所述经训练的神经网络(t-ANN)以学习故障源。
7.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中输入数据还包括文本数据、流数据、历史数据和/或参数数据。
8.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,基于结果评估逐步地重新训练所述经训练的神经网络系统(t-ANN)。
9.一种用于医学成像设备(D)的自动故障分析仪(A),包括:
输入接口(A1),适于读取由成像设备(D)获取的输入数据,所述输入数据包括原始数据(rd)或图像数据(i);
计算器(A2),适于计算输入数据中的性能指标(KPI)集;
经训练的神经网络系统(t-ANN),其中所述经训练的神经网络系统(t-ANN)提供性能指标(KPI)和故障源之间的相关性;
输出接口(A3),适于提供用于所述医学成像设备(D)的操作的结果数据,
其中性能指标(KPI)包括:
每通道的平均信号;
最高相对FFT峰值;
平均SNR。
10.根据权利要求9所述的自动故障分析仪,其中自动故障分析仪(A)还包括存储器,其中存储经训练的神经网络系统(t-ANN)和可选的第二经训练的神经网络,其中第二神经网络适于学习进一步的性能指标(KPI)。
11.一种具有根据权利要求9或10的自动故障分析仪(A)的医学成像设备(D)。
12.一种计算机可读介质,在其上存储有计算机程序,所述计算机程序能够加载到医学成像设备(D)或计算机的处理单元中,当由处理单元或计算机处理时,所述计算机程序包括适于执行根据权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤的代码。
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