[发明专利]在机床上测量的方法以及相应的机床设备有效

专利信息
申请号: 201811375373.1 申请日: 2013-04-16
公开(公告)号: CN110076630B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 迈克尔·伍尔德里奇;保罗·穆尔;约翰·奥尔德 申请(专利权)人: 瑞尼斯豪公司
主分类号: B23Q17/20 分类号: B23Q17/20
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 谢攀;刘继富
地址: 英国格*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 机床 测量 方法 以及 相应 机床设备
【权利要求书】:

1.一种应用安装在机床上的接触式模拟探针扫描物体以便沿着所述物体的表面上的名义测量线收集扫描测量数据的方法,所述接触式模拟探针包括用于接触物体的可偏转触针,所述模拟探针具有优选测量范围,所述方法包括:

根据预定的相对运动路线控制所述接触式模拟探针和/或物体以便执行扫描操作,所述预定的相对运动路线被构造成使得所述接触式模拟探针的优选测量范围沿着所述名义测量线横越穿过所述物体多次,其中,所述接触式模拟探针的优选测量范围相对于所述物体的表面的位置对于不同的横越是不同的,以及

过滤由所述接触式模拟探针获得的数据,以便获得选择的扫描测量数据,其与主要从所述接触式模拟探针的优选测量范围之内或之外获得的扫描测量数据相关。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,沿着所述名义测量线,所述接触式模拟探针移出其优选测量范围,以及获得位于其优选测量范围之内的数据。

3.根据权利要求1或2所述的方法,包括收集和输出在所述接触式模拟探针的优选测量范围之内获得的扫描测量数据,作为所述物体的测量值。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述收集和输出包括将从所述接触式模拟探针获得的数据过滤,以便获得从接触式模拟探针的优选测量范围之内获得的选择的物体测量数据,并作为所述物体的测量值提供。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述接触式模拟探针以以下方式行进:基于物体的表面的假设特性,使得当所述接触式模拟探针沿着所述名义测量线运动时,所述接触式模拟探针的优选测量范围的位置相对于所述物体的表面反复地升高和下降。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,当所述接触式模拟探针运动时,保持它与所述物体的表面的位置感测关系,以便收集沿着所述名义测量线的数据。

7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述接触式模拟探针的优选测量范围相对于所述物体的表面的高度对于不同的横越是不同的。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,对于不同的横越,所述接触式模拟探针沿着所述名义测量线对于所述物体的不同部分在其优选测量范围内获得测量数据。

9.根据权利要求1所述的方法,其中,对于连续的横越,所述优选测量范围相对于所述表面所采取的路线的形式是相同的,但是对于不同的横越,在沿着所述名义测量线的至少一个点处所述路线距离所述表面的高度是不同的。

10.根据权利要求1所述的方法,其中,对于连续的横越,所述优选测量范围相对于所述表面所采取的路线的形式是相同的,但是对于不同的横越,沿着所述名义测量线的整个长度,所述路线距离所述表面的高度是不同的。

11.根据权利要求1所述的方法,其中,来自不同横越的在所述优选测量范围内获得的表面测量数据被核对,以便形成测量数据组,所述测量数据组代表沿着所述名义测量线的物体的表面。

12.根据权利要求1所述的方法,其中,所述运动路线被构造成使得在连续的横越之间,针对其在所述优选测量范围内获得测量数据的所述表面的部分重叠。

13.根据权利要求11所述的方法,其中,所述测量数据组代表沿着所述名义测量线的所述表面的连续长度。

14.根据权利要求11所述的方法,其中,所述测量数据组代表沿着所述名义测量线的整个长度的表面。

15.根据权利要求1所述的方法,包括:作为第二扫描操作的一部分,产生并执行所述模拟探针和物体的新的相对运动路线。

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