[发明专利]一种测试设备及测试方法

说明书

本申请公开了一种测试设备，包括：连接单元和处理单元，该连接单元与该处理单元连接；该连接单元用于连接至少两个待测外插卡，该处理单元通过该连接单元同时获取该至少两个待测外插卡对应的目标信息，并对该至少两个待测外插卡对应的目标信息进行处理，以得到分析结果。本申请实施例还提供相应的测试方法。本申请技术方案由于可以同时连接多个外插卡进行测试，提高了外插卡的测试效率。

技术领域

本申请涉及测试技术领域，具体涉及一种测试设备及测试方法。

背景技术

高速外围组件互连(peripheral component interconnect express，PCIE)外插卡是服务器系统和存储系统必不可少的关键部件。

在PCIE外插卡的研发和生产过程中，PCIE外插卡的测试一般是直接在所需配备PCIE外插卡的服务器主板或者存储主板上进行测试，而这些主板上的PCIE插槽数量较少，面对PCIE外插卡的批量化测试则表现出测试效率较低问题。由此可见，如何提高外插卡的测试效率是一个需要解决的问题。

发明内容

本申请实施例提供一种测试设备及测试方法，可以同时连接多个待测外插卡进行测试，可以提高外插卡的测试效率。

为了达到上述目的，本申请实施例提供了如下技术方案：

本申请第一方面提供一种测试设备，该测试设备可以包括：连接单元和处理单元，所述连接单元与所述处理单元连接；所述连接单元用于连接至少两个待测外插卡，所述处理单元通过所述连接单元同时获取所述至少两个待测外插卡对应的目标信息，并对所述至少两个待测外插卡对应的目标信息进行处理，以得到分析结果。

可选地，结合上述第一方面，在第一种可能的实现方式中，所述连接单元包括第一芯片、至少两个插槽、第二芯片和至少两个状态指示灯，其中，所述第一芯片与所述至少两个插槽连接，所述第二芯片与所述至少两个状态指示灯连接；所述第一芯片用于控制所述至少两个插槽，所述第二芯片用于控制所述至少两个状态指示灯，所述至少两个插槽与所述至少两个状态指示灯的数量相同，所述至少两个插槽与所述至少两个状态指示灯一一对应，所述至少两个插槽用于连接所述至少两个待测外插卡，所述至少两个状态指示灯用于指示所述至少两个待测外插卡的连接(LINK)状态。

可选地，结合上述第一方面第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中，当所述至少两个状态指示灯中的一个常亮时，指示对应的插槽连接的待测外插卡的所述LINK状态正常；当所述至少两个状态指示灯中的一个闪烁时，指示对应的插槽连接的待测外插卡的所述LINK状态异常。

可选地，结合上述第一方面、第一方面第一种和第二种中任意一种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中，所述待测外插卡包括高速外围组件互连PCIE外插卡。

可选地，结合上述第一方面、第一方面第一种和第二种中任意一种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，所述目标信息包括LINK状态信息和带宽信息。

本申请第二方面提供一种测试方法，该测试方法可以包括：测试设备控制连接单元连接至少两个待测外插卡；所述测试设备控制处理单元通过所述连接单元同时获取所述至少两个待测外插卡对应的目标信息；所述测试设备控制所述处理单元对所述至少两个待测外插卡对应的目标信息进行处理，以得到分析结果。

可选地，结合上述第二方面，在第一种可能的实现方式中，所述连接单元包括第一芯片、至少两个插槽、第二芯片和至少两个状态指示灯，并且，所述第一芯片与所述至少两个插槽连接，所述第二芯片与所述至少两个状态指示灯连接；所述测试设备控制连接单元连接至少两个待测外插卡，包括：所述测试设备通过所述第一芯片控制所述至少两个插槽连接所述至少两个待测外插卡；所述测试方法还包括：所述测试设备通过所述第二芯片控制所述至少两个状态指示灯。