[发明专利]一种光模块的检测方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种光模块的检测方法，包括：构建在预设的信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合插损规范的插入损耗范围，作为构建出的目标插入损耗区域；获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量；将微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量代入预先构建的第一模型中，确定出待测光模块在信号频率范围内的插入损耗曲线；当判断出插入损耗曲线存在超出目标插入损耗区域的部分时，确定待测光模块为不合格的光模块。应用本发明的方法，可以有效地提高光模块的检测效率。本发明还公开了一种光模块的检测装置、设备及存储介质，具有相应技术效果。

技术领域

本发明涉及光模块技术领域，特别是涉及一种光模块的检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

SFP(Small Form-factor Pluggable，小型可插拔)光模块作为GBIC(GigabitInterface Converter，千兆比特接口转换器)的升级版本，压缩了尺寸和功耗，在光通信中有着广泛的应用。在此基础上，SFP+光模块实现了尺寸相同的条件下的传输万兆信号的功能，具有高密度、低功耗、更低系统构造成本等显著优点，已经逐渐成为万兆市场的主流。

现有的SFP+光模块千差万别，在不同场合中用于满足用户的不同业务需求，设计有不同的信号传输通道的模型。由于信号通道的不同，因此目前没有固定的定义对SFP+光模块进行管控。在验证具体的某个SFP+光模块的信号性能时，通常的方案是直接对其进行实验。即需要对SFP+光模块施加某一频率的检测信号，同时获取输出信号，进而再利用相关软件分析出当前信号频率下的插入损耗和/或回波损耗，检测插入损耗和/或回波损耗是否符合规范，从而确定当前信号频率下，该SFP+光模块是否合格。并且SFP+光模块可能需要工作在不同的信号频率下，因此，还需要在多个不同的信号频率下重复上述检测步骤，以确定SPF+光模块在不同频率下是否合格。这样的方式较为费时费力，特别是当待检测的光模块数量较多的场合中，挨个实验需要大量人力以及检测时间。

综上所述，如何更加有效地对光模块进行检测，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种光模块的检测方法、装置、设备及存储介质，以有效地对光模块进行检测。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种光模块的检测方法，包括：

构建在预设的信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合插损规范的插入损耗范围，作为构建出的目标插入损耗区域；

获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量；

将所述微带差分线长度，所述带状差分线长度，所述过孔数量以及所述连接器数量代入预先构建的第一模型中，确定出所述待测光模块在所述信号频率范围内的插入损耗曲线；

当判断出所述插入损耗曲线存在超出所述目标插入损耗区域的部分时，确定所述待测光模块为不合格的光模块。

优选的，还包括：

构建在所述信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合回损规范的回波损耗范围，作为构建出的目标回波损耗区域；

将所述微带差分线长度，所述带状差分线长度，所述过孔数量以及所述连接器数量代入预先构建的第二模型中，确定出所述待测光模块在所述信号频率范围内的回波损耗曲线；

当判断出所述回波损耗曲线存在超出所述目标回波损耗区域的部分时，确定所述待测光模块为不合格的光模块。

优选的，所述第一模型为通过以下步骤构建的模型：