[发明专利]一种透射光检测系统

说明书

本发明涉及光检测系统领域，公开了一种透射光检测系统，具体涉及一种透射光检测系统在微流控芯片透射定量检测中的应用，该透射光检测系统包括光束整形器、光源输出端、信号接收端、样品位，光从所述的光源输出端发射出，通过光束整形器后透过样品位中的待测样品，最终被信号接收端接收，获得样品的吸光度，根据朗伯‑比尔定律计算被测物质的浓度。

技术领域

本发明涉及一种光检测系统领域，特别涉及一种透射光检测系统。

背景技术

传统透射光检测系统使用单一复合光源，通过分光系统进行不同波长光的分离、检测，结构十分复杂，需要精确的结构和大量的透镜、二向色镜等透射、折射分光组件；单一非复合光源的结构上除了光的分离功能外，依然需要透镜系统进行光束整形，结构复杂，占用空间大；二者由于组件较多，导致成本较高。

发明内容

为了解决现有透射光检测系统的上述不足，本发明提供了一种透射光检测系统，包括光束整形器，光源输出端，信号接收端，样品位，光从所述的光源输出端发射出，通过光束整形器后透过样品位中的待测样品，最终被信号接收端接收。

本发明所述的透射光检测系统，所述的光束整形器由不透光材料形成。

本发明所述的透射光检测系统，所述的光束整形器在光通道上存在光束整形孔。

本发明所述的透射光检测系统，所述的光源输出端可以是单色光LED，也可以是单色光组合型LED。

本发明所述的透射光检测系统，所述的光源输出端波长范围320～900nm。

本发明所述的透射光检测系统，所述的信号接收端能够将接收到的光信号转化为电信号。

本发明所述的透射光检测系统，所述的样品位是光束整形器内存在的一个空腔。

本发明所述的透射光检测系统，所述的样品位空腔大小足以容纳样品载体。

本发明所述的透射光检测系统，可以独立使用，也可以结合透镜系统配合使用。

本发明所述的光束整形器，所述的光束整形孔可以是单层或多层组合形成。

本发明所述的光束整形器，所述的光束整形孔可以是一次性注塑形成，也可以是通过多块组件组合形成。

本发明的另一方面是提供一种透射光检测方法，包括至少一个检测位的微流控芯片，将微流控芯片放置于所述的透射光检测系统的样品位。

本发明的另一方面是提供一种透射光检测方法，利用本发明所述的透射光检测系统和微流控芯片，将样品放置于微流控芯片，使用所述的光源输出端照射样品，由信号接收端检测吸光度，根据朗伯-比尔定律计算被测物质的浓度。

本发明所述的一个具体实施方式中，将样品放置与微流控芯片，使用所述的光源输出端照射样品，由信号接收端检测吸光度，根据朗伯-比尔定律计算被测物质的浓度。

本发明的另一方面是提供一种透射光检测系统在微流控芯片透射定量检测中的应用。

本发明提供一种透射光检测系统，可实现多波长检测，结构简单，极大降低光源组件数量与安装难度，省时省力。本发明利用上述透射光检测系统提供了一种透射光检测方法，特别适合用于微流控芯片等微量定量检测。

附图说明

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

根据下列非限制性图将更好地理解本发明，其中：