[发明专利]一种测量水分影响电缆损耗因数的方法

权利要求书

1.一种测量水分影响电缆介质损耗因数的方法，包括如下步骤：

S100：通过接头连接电缆，并在接头位置注水；

S200：测量注水后电缆的超低频介质损耗因数；

S300：通过高压西林电桥测量注水后电缆的工频介质损耗因数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，优选的，所述超低频介质损耗因数的计算公式如下：

tan δ＝I_R/I_C

其中，tanδ表示超低频介质损耗因数，I_R表示电阻电流_，IC表示电容电流。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量注水后电缆的超低频介质损耗因数包括以下步骤：

S1000：选择电缆三相中的一相与超低频测试主机相连；

S2000：利用低频高压电源间断输出频率为0.1HZ、电压等级分别为0.5U₀、1.0U₀和1.5U₀的低频电压，测量每个电压等级输出下超低频介质损耗因数tan8的数值并计算该超低频介质损耗因数tan8的平均值、差值和标准偏差；

S3000：利用低频高压电源间断输出频率为50HZ、电压等级分别为0.5U₀、1.0U₀和1.5U₀的低频电压，测量每个电压等级输出下超低频介质损耗因数tanδ的数值并计算该超低频介质损耗因数tanδ的平均值、差值和标准偏差；

S4000：选择电缆另外两相分别与超低频测试主机相连，并重复执行步骤S2000-S3000。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，步骤S2000中，所述超低频介质损耗因数tanδ的平均值、差值和标准偏差作为电缆绝缘老化的判断依据。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述工频介质损耗因数的计算公式为：

其中，ε_r表示工频介质损耗因数，d表示电缆厚度；D_e表示测量电极的有效直径；C_x表示电缆电容。