[发明专利]一种高精度雷达物位计

说明书

一种高精度雷达物位计，包括雷达物位计本体、控制器和空压机，所述雷达物位计本体与料仓连接处设有高精度质量传感器，所述高精度质量传感器与控制器相连，所述控制器包括储存芯片，所述雷达物位计本体上部的料仓上固定有外喷气环，所述外喷气环上设有若干喷嘴，所述雷达物位计本体上设有天线罩，所述天线罩内设有雷达波发射器，所述天线罩内壁上通过内喷气环支架上设有内喷气环，所述内喷气环为中空结构且设有若干喷气孔，其中一个内喷气环支架为中空结构，该中空内喷气环支架联通内喷气环与空压机，所述空压机与控制器相连。本发明可及时发现雷达物位计表面集聚的灰尘，并及时清理，保证测量工作的准确。

技术领域

本发明涉及仪器仪表领域，尤其涉及一种可自动清理天线表面灰尘的雷达物位计。

背景技术

雷达物位计是采用微波脉冲的测量方法对料仓内物料进行物位测量的仪器，可安装于各种金属、非金属容器或管道内，对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量。适用于粉尘、温度、压力变化大，有惰性气体及蒸汽存在的场合。雷达物位计具有对人体及环境均无伤害，不受介质比重的影响，不受介电常数变化的影响，不需要现场校调等优点，不论是对工业需要，还是对顾客经济实惠的考虑，都是不错的选择。但是被测介质的产生的灰尘会在天线上聚集，此时会影响雷达波的发射，严重时雷达波甚至不能发出，从而影响正常的生产工作。

发明内容

为了克服雷达物位计在工作过程中，测量介质产生的灰尘会在天线上聚集，影响测量精度的问题，本发明提供一种高精度雷达物位计，该种高精度雷达物位计在表面灰尘过多时，可自动清理灰尘，从而保证测量工作准确的进行。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种高精度雷达物位计，包括雷达物位计本体、控制器和空压机，所述控制器设于料仓顶部，所述雷达物位计本体与料仓连接处设有高精度质量传感器，所述高精度质量传感器与控制器相连，所述控制器包括储存芯片，所述雷达物位计本体上部的料仓上固定有外喷气环，所述外喷气环为中空结构，所述外喷气环上设有若干喷嘴，所述外喷气环通过气管与空压机相连，所述雷达物位计本体上设有天线罩，所述天线罩内设有雷达波发射器，所述天线罩内壁上设有内喷气环支架，所述内喷气环支架上设有内喷气环，所述内喷气环为中空结构，所述雷达波发射器位于内喷气环上方，所述内喷气环上设有若干喷气孔，所述其中一个内喷气环支架为中空结构，该中空内喷气环支架一端与内喷气环相通，另一端穿过天线罩通过气管与空压机相连，所述空压机与控制器相连。

优选的所述控制器为单片机。

储存芯片内预设有雷达物位计本体质量的允许最大值，当灰尘在雷达物位计表面集聚时，会导致雷达物位计本体质量升高，当高精度质量传感器检测到质量升高到预设值时，控制器会使空压机喷出气体，气体从外面的喷嘴和内部喷气孔喷出吹走内外表面的灰尘，雷达波发射器发射的雷达波存在波束角，故内喷气环不会影响正常工作。

本发明的有益效果是：可及时发现雷达物位计表面集聚的灰尘，并及时清理，保证测量工作的准确。

附图说明

下面结合附图和实例对本发明作进一步的说明。

图1是本发明的结构示意图。

图中1.外喷气环，2，喷嘴，3.内喷气环支架，4.喷气孔，5.气管，6.空压机，7.控制器，8.内喷气环，9.天线罩，10.雷达波发射器。

具体实施方式