[发明专利]粒子计数器

说明书

本发明提供粒子计数器，其包括：检测部，用受光元件接收散射光与参考光的干涉光，生成与所述干涉光对应的检测信号；滤波器，针对由所述检测部生成的所述检测信号进行使与所述干涉光的强度变化对应的频率成分通过的滤波处理；判断部，根据所述滤波处理前的所述检测信号的峰值和所述滤波处理后的所述检测信号的峰值，判断所述检测信号是否是基于所述粒子的检测信号；以及计数部，当由所述判断部判断为所述检测信号是基于所述粒子的检测信号时，进行基于所述滤波处理后的所述检测信号的所述粒子的计数。

技术领域

本发明涉及粒子计数器。

背景技术

作为测定药液和水等液体或者空气等气体亦即流体中的粒子的装置有粒子计数器。在某些粒子计数器中，将来自光源的光分离为照射光和参考光，向含有粒子的流体照射照射光。此外，使照射光产生的粒子的散射光与参考光干涉，根据所述干涉光，对每种粒径计数粒子(例如参照日本专利公报特许第5859154号)。

在上述的粒子计数器中，因粒子的散射光强度低，为了提高干涉光强度，所以提高参考光强度。如果参考光强度变高，则受光元件变成接收大量的光量。因此，受光元件的光电转换中的散粒噪声(shot noise)变大。该噪声成为准确的粒子测量测量的障碍。

此外，在检测与干涉光对应的检测信号的检测部中，有时因电气性原因会导致尖峰噪声与检测信号重叠。在该情况下，通过滤波处理可以降低噪声水平。可是，由于尖峰噪声的强度，会产生起因于该噪声的假计数。

此外，在根据散射光测量粒子的光散射法的情况下，起因于光源和受光元件的噪声，具有与粒子的检测信号相似的形状，并且含有宽范围的频率成分。因此，难以通过滤波处理区别噪声，会产生起因于所述的噪声的假计数。

发明内容

本发明的一个目的是提供粒子计数器，其能够通过降低起因于噪声的假计数来高精度地对每种粒径计数粒子。

本发明的一个方式的粒子计数器，其包括：光源，射出光；光重叠部，将两束光空间性重叠；照射光学系统，利用通过将来自所述光源的光分路得到的多束光中的一束光照射流过流道内的流体，由此形成检测区域；检测光学系统，使来自所述检测区域内的所述流体所含的粒子的散射光中的、与所述照射光学系统的光轴不同方向的散射光入射到所述光重叠部；参考光学系统，将所述多束光中的另外一束光作为参考光入射到所述光重叠部；检测部，用受光元件接收通过所述光重叠部得到的所述散射光与所述参考光的干涉光，生成与所述干涉光对应的检测信号；滤波器，针对由所述检测部生成的所述检测信号，进行使与所述干涉光的强度变化对应的频率成分通过的滤波处理；判断部，基于规定的计算公式，根据所述滤波处理前的所述检测信号的峰值和所述滤波处理后的所述检测信号的峰值，判断所述检测信号是否是基于所述粒子的检测信号；以及计数部，当由所述判断部判断为所述检测信号是基于所述粒子的检测信号时，进行基于所述滤波处理后的所述检测信号的所述粒子的计数，当由所述判断部未判断为所述检测信号是基于所述粒子的检测信号时，不进行基于所述滤波处理后的所述检测信号的所述粒子的计数，所述规定的计算公式是求取从所述滤波处理前的所述检测信号的峰值Vp1向所述滤波处理后的所述检测信号的峰值Vp2衰减的衰减率的公式(Vp1－Vp2)/Vp1，所述判断部根据对衰减率阈值和所述衰减率进行比较的结果，判断所述检测信号是否是基于所述粒子的检测信号，所述计数部根据对计数阈值与所述滤波处理后的所述检测信号进行比较的结果，进行所述粒子的计数，所述衰减率阈值和所述计数阈值的一方是根据所述衰减率阈值和所述计数阈值的另一方设定的。

按照本发明的上述方式，能够得到能通过降低起因于噪声的假计数来高精度地对每种粒径计数粒子的粒子计数器。

附图说明

图1是表示本发明实施方式1的粒子计数器的结构的框图。

图2是表示图1中的流动池的一个例子的立体图。