[发明专利]脉间噪声测试方法和系统在审

专利信息
申请号: 201811383910.7 申请日: 2018-11-20
公开(公告)号: CN109633294A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 宋芳芳;王铁羊;恩云飞;黄云 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G01R29/26 分类号: G01R29/26
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 冯右明
地址: 510610 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 放大器 频谱分析仪 待测器件 噪声测试 测量 噪声测量结果 噪声放大 噪声谱密度 测试信号 频谱分析 噪声信号 噪声 放大 淹没 发送 测试 申请
【说明书】:

本申请涉及一种脉间噪声测试方法和系统。在待测器件的后端设置一个放大器,获取放大器的增益,以及频谱分析仪测量脉间噪声放大信号得到的脉间噪声测量结果。其中,脉间噪声放大信号由待测器件发送的脉间测试信号、经过放大器放大后得到。基于增益以及脉间噪声测量结果,得到脉间噪声。在待测器件和频谱分析仪之间设置的放大器,能够提高频谱分析仪测量范围,可适用于噪声谱密度低至‑160dBm/Hz的噪声信号测量,解决传统技术中脉间噪声测试值淹没在频谱分析仪的测量噪底以下,无法准确测试的问题。

技术领域

本申请涉及电子器件测试技术领域,特别是涉及一种脉间噪声测试方法和系统。

背景技术

随着微波器件的发展,真空电子器件(如行波管等)由于其输出功率大,信号覆盖范围广而已大量应用于现代无线通信系统中。而在高功率微波真空电子器件的一系列参数中,脉间噪声是一个较为重要的技术指标。

在实现过程中,发明人发现传统技术中至少存在如下问题:利用频谱分析仪直接测量脉冲真空电子器件噪声时,脉内噪声测试值远高于频谱分析仪的噪底,而脉间噪声测试值已淹没在频谱分析仪的测量噪底以下,无法准确测试。

发明内容

基于此,有必要针对传统技术无法测试脉间噪声的问题,提供一种脉间噪声测试方法和系统。

为了实现上述目的,一方面,本申请实施例提供了一种脉间噪声测试方法,包括:

获取放大器的增益,以及频谱分析仪测量脉间噪声放大信号得到的脉间噪声测量结果;脉间噪声放大信号由待测器件发送的脉间测试信号、经过放大器放大后得到。

基于增益以及脉间噪声测量结果,得到脉间噪声。

在其中一个实施例中,脉间噪声放大信号由脉间测试信号依次经过放大器和衰减器处理后得到。

基于增益以及脉间噪声测量结果,得到脉间噪声的步骤包括:

根据增益、脉间噪声测量结果以及衰减器的衰减量,得到脉间噪声。

在其中一个实施例中,还包括步骤:

获取测试损耗,以及频谱分析仪测量脉间噪声放大信号得到的功率电平值;测试损耗包括衰减器的损耗以及电缆的损耗。

基于测试损耗和功率电平值,得到脉间噪声功率。

在其中一个实施例中,获取放大器的增益,以及频谱分析仪测量脉间噪声放大信号得到的脉间噪声测量结果的步骤之前,还包括步骤:

校正放大器的参数。

在其中一个实施例中,增益为矢量网络分析仪以脉间测试信号的电平作为放大器的激励信号、进行标定得到。

另一方面,本申请实施例还提供了一种脉间噪声测试系统,包括放大器以及频谱分析仪;放大器的输入端用于连接待测器件,放大器的输出端连接频谱分析仪的输入端。

放大器将接收到的待测器件发送的脉间测试信号进行放大,得到脉间噪声放大信号,并将脉间噪声放大信号发送给频谱分析仪;频谱分析仪测量脉间噪声放大信号,得到脉间噪声测量结果。

在其中一个实施例中,还包括衰减器。放大器的输出端通过衰减器连接频谱分析仪的输入端;衰减器降低脉间噪声放大信号的电平后发送给频谱分析仪。

在其中一个实施例中,还包括处理器。处理器分别连接放大器的控制端,频谱分析仪的控制端,以及衰减器的控制端;处理器处理获取到的放大器的增益、脉间噪声测量结果以及衰减器的衰减量,得到脉间噪声。

在其中一个实施例中,还包括连接放大器的矢量网络分析仪。矢量网络分析仪以脉间测试信号的电平作为放大器的激励信号,标定增益。

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