[发明专利]一种阻型存储器结构在审

专利信息
申请号: 201811384438.9 申请日: 2018-11-20
公开(公告)号: CN109300933A 公开(公告)日: 2019-02-01
发明(设计)人: 张一平;王子欧;张立军;朱灿焰 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;G11C11/56
代理公司: 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙) 32251 代理人: 陆金星
地址: 215000 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 存储单元 存储器结构 存储器 复数 位线 一端连接 源极连接 栅极连接 源极线 减小 漏极 字线 存储
【说明书】:

发明公开了一种阻型存储器结构,包括MOSFET管、复数个阻型存储单元和复数条对应阻型存储单元的位线;所述MOSFET管的源极连接到源极线,栅极连接到字线,漏极分别连接到各阻型存储单元的一端,各阻型存储单元的另一端连接到其对应的位线。本发明能够减小阻型存储器的面积,提高阻型存储器的存储密度。

技术领域

本发明涉及存储器技术领域,具体涉及一种阻型存储器结构。

背景技术

近年来随着计算机技术、互联网技术的飞速发展,非易失性存储器件在半导体行业中扮演越来越重要的角色。在非易失性存储器件中,即使当电源被切断,器件的基本单元仍保持基本单元中存储的数据。电阻型随机存储器(如RRAM、MRAM、FeRAM、PRAM等)是一种新型非易失性存储器,其工作的机理是在外电场触发可逆电阻转变效应,即在外加电压的作用下,器件的电阻在低阻态(“0”)和高阻态(“1”)之间可逆转变,并且所得到的电阻在外电场去除后可以保持下来。电阻型存储器由于具有高的读写速度、高集成度和多值存储能力等特点,而成为现阶段研究的热点。

参见附图1所示,现有的阻型存储器通常由一个MOSFET管M1和一个阻型存储单元R1组成,当其字线WL电压为高时,这个单元的字线WL被选中,此时可以进行读写操作。随着工艺的改进,阻型存储器的面积受MOSFET管的限制。

发明内容

本发明的发明目的是提供一种阻型存储器结构,能够减小阻型存储器的面积,提高阻型存储器的存储密度。

为达到上述发明目的,本发明采用的技术方案是:一种阻型存储器结构,包括MOSFET管、复数个阻型存储单元和复数条对应阻型存储单元的位线;

所述MOSFET管的源极连接到源极线,栅极连接到字线,漏极分别连接到各阻型存储单元的一端,各阻型存储单元的另一端连接到其对应的位线,各所述位线中有且仅有一条被置读写电压。

上文中,仅选择其中一条位线置读写电压,其它位线浮空,不读写。

上述技术方案中,所述MOSFET管为N型MOSFET管。

上述技术方案中,所述阻型存储单元的数量为5万~500万个。

上述技术方案中,所述MOSFET管的面积占阻型存储器面积的30%~50%。对于MOSFET管的面积在阻型存储器面积中的占比,本发明不做具体限定,典型但非限制性的可以是30%、31%、32%、33%、34%、35%、36%、37%、38%、39%、40%、41%、42%、43%、44%、45%、46%、47%、48%、49%、50%。优选为40%。

由于上述技术方案运用,本发明与现有技术相比具有下列优点:

1.本发明通过在MOSFET管的漏极并联连接多个阻型存储单元,并且各阻型存储单元都连接有一条位线,通过给位线置读写电压来控制对应的阻型存储单元读写,能够减小阻型存储器的面积,提高阻型存储器的存储密度;

2.本发明的各阻型存储的单元共用一个MOSFET管,可以适当增大MOSFET管的宽度,减小MOSFET管的导通电阻,提高读写的成功率。

附图说明

图1是本发明背景技术中的现有阻型存储器的结构示意图。

图2是本发明实施例一的阻型存储器的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本发明作进一步描述:

实施例一:

参见图2所示,一种阻型存储器结构,包括MOSFET管M1、复数个阻型存储单元R1、R2、…RN和复数条对应阻型存储单元的位线BL1、BL2、…BLN;

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