[发明专利]显著性检测方法及装置

权利要求书

1.一种显著性检测方法，其特征在于，包括：

对原始图像以不同尺度分别进行超像素分割，获得不同尺度的分割图像；

确定一定数量的低层次特征，计算每种尺度的分割图像在每个低层次特征下的第一特征图，对同一低层次特征下的所有尺度的第一特征图进行融合，获得各低层次特征的第二特征图；

对于任意一种尺度的分割图像，利用暗通道和中心先验策略对所述分割图像进行优化，结合各低层次特征的第二特征图，获得所述分割图像的显著图；

将所有尺度的分割图像的显著图进行集成，形成最终的显著图。

2.根据权利要求1所述的显著性检测方法，其特征在于，所述低层次特征包括亮度特征、颜色特征和梯度特征；

相应地，所述计算每种尺度的分割图像在每个低层次特征下的第一特征图，包括：

对于任意一种尺度的分割图像，将所述分割图像转换至CIELAB颜色空间，通过分割图像的超像素的亮度与L通道的超像素的亮度之间的欧氏距离，计算分割图像在亮度特征下的第一特征图；

对于任意一种尺度的分割图像，将所述分割图像转换至CIELAB颜色空间，通过CIELAB颜色空间的A通道和B通道中超像素的平均颜色值之间的欧氏距离，计算分割图像在颜色特征下的第一特征图；

对于任意一种尺度的分割图像，通过水平和垂直方向的超像素的平均梯度值之间的欧氏距离，计算分割图像在梯度特征下的第一特征图。

3.根据权利要求2所述的显著性检测方法，其特征在于，所述将所述分割图像转换至CIELAB颜色空间，通过分割图像的超像素的亮度与L通道的超像素的亮度之间的欧氏距离，计算分割图像在亮度特征下的第一特征图，具体为：

采用以下公式计算分割图像的超像素SP(i)的亮度与L通道的超像素SP(j)的亮度之间的欧氏距离：

采用以下公式计算SP(i)在第n个尺度下的亮度显著值

4.根据权利要求2所述的显著性检测方法，其特征在于，所述通过组件A和组件B中超像素的平均颜色值之间的欧氏距离，计算分割图像在颜色特征下的第一特征图，具体为：

采用以下公式计算CIELAB颜色空间的A通道和B通道中超像素的平均颜色值之间的差异性：

其中，d_a(SP(m),SP(l))表示A通道中超像素SP(m)的颜色值与超像素SP(l)的颜色值的差值，d_b(SP(m),SP(l))表示B通道中超像素SP(m)的颜色值与超像素SP(l)的颜色值的差值，d_position(SP(m),SP(l))表示超像素m位置中心与超像素l位置中心的欧式距离；

采用公式计算SP(m)在第n个尺度下的亮度显著值

5.根据权利要求1所述的显著性检测方法，其特征在于，所述利用暗通道对所述分割图像进行优化，具体为：

根据以下公式计算像素点I(x,y)的暗通道先验值I_dark(x,y)：

其中，c表示R、G、B三种颜色通道中的一种，I^c表示颜色通道c下的分割图像，I(x,y)表示分割图像I^c中的像素点，p(x,y)表示以I(x,y)为中心的局部块；

根据以下公式计算分割图像中超像素SP(i)的暗通道先验值：

其中，num(SP(i))表示超像素SP(i)中像素点的总数。

6.根据权利要求1所述的显著性检测方法，其特征在于，所述利用中心先验策略对所述分割图像进行优化，具体为：

根据以下公式对分割图像中的超像素增加权重SP_weight(i)：

SP_weight(i)＝d_center(SP_center(i),I_center).

其中，d_center表示欧氏距离，SP_center(i)表示超像素SP(i)的中心，I_center表示分割图像的中心。