[发明专利]基于涡旋电磁波的干涉SAR高程测量系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 201811390320.7 申请日: 2018-11-21
公开(公告)号: CN109490881A 公开(公告)日: 2019-03-19
发明(设计)人: 张卓;卜祥玺;陈龙永;梁兴东;唐海波 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S13/08
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张宇园
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 涡旋 电磁波 电磁波天线 高程测量 回波数据 接收通道 基线 模态 干涉 测量 系统复杂度 采集单元 发射通道 飞行平台 干涉相位 高程信息 输出测量 发射 多模态 相干性 相干 反演 回波
【权利要求书】:

1.一种基于涡旋电磁波的干涉SAR高程测量系统,其特征在于,包括:

涡旋电磁波天线,具有不同模态;

发射通道,控制所述涡旋电磁波天线发射涡旋电磁波的频率;

接收通道,接收所述涡旋电磁波天线不同模态下发射出的涡旋电磁波对应的回波数据;

采集单元,处理所述接收通道接收到的回波数据并输出测量结果。

2.根据权利要求1所述的基于涡旋电磁波的干涉SAR高程测量系统,其特征在于,所述系统还包括一开关组件,控制系统的运行状态。

3.根据权利要求1所述的基于涡旋电磁波的干涉SAR高程测量系统,其特征在于,所述涡旋电磁波天线为均匀圆阵天线、抛物面天线或超表面材料天线。

4.根据权利要求1所述的基于涡旋电磁波的干涉SAR高程测量系统,其特征在于,所述发射通道包括频率器和发射机,控制所述涡旋电磁波天线发射涡旋电磁波的频率。

5.根据权利要求1所述的基于涡旋电磁波的干涉SAR高程测量系统,其特征在于,所述接收通道为1个,用来分时接收所述涡旋电磁波天线不同模态下发射出的涡旋电磁波对应的回波数据。

6.根据权利要求1所述的基于涡旋电磁波的干涉SAR高程测量系统,其特征在于,所述接收通道为至少两个,用来同时接收所述涡旋电磁波天线所有模态下发射出的涡旋电磁波对应的回波数据。

7.一种基于涡旋电磁波的干涉SAR高程测量方法,其特征在于,包括:

涡旋电磁波天线向待测目标发射不同模态的涡旋电磁波;

涡旋电磁波经待测目标反射后获得对应模态涡旋电磁波的回波数据;

利用涡旋电磁波SAR成像;

计算目标高程信息。

8.根据权利要求7所述的基于涡旋电磁波的干涉SAR高程测量方法,其特征在于,所述涡旋电磁波天线同时或分时向待测目标发射不同模态的涡旋电磁波。

9.根据权利要求7所述的基于涡旋电磁波的干涉SAR高程测量方法,其特征在于,所述SAR成像使用RD成像算法或ωK算法。

10.根据权利要求7所述的基于涡旋电磁波的干涉SAR高程测量方法,其特征在于,所述计算目标高程信息包括:

接收到对应模态涡旋电磁波的回波数据如下:

其中tm为方位慢时间,t为快时间,1为涡旋电磁波模态,ωa为方位向包络,ωr为距离向包络,r(tm)为目标斜距,c为真空中光速,Kr为线性调频信号调频率,Jl为一阶贝塞尔函数,对其中相位项和斜距项r(tm)做近似处理后可得:

s(tm,t,l)≈Aωa(tm-x0/v)ωr(t-2r(tm)/c)exp{iπKr[t-2r(tm)/c]2}

exp{-iπKa(tm-x0/v)2}exp{i2lφ+i2lvtm/y0} (2)

其中,

A=σN2Jl[k(tm)asinθ(tm)]expilπ}exp(-i4πR0/λ) (3)

A为回波幅度大小,K为方位向调频率,R0为参考斜距;

对回波做距离压缩和距离徙动校正:

s(tm,t,l)≈Aωa(tm-x0/v)pr(t-2R0/c)

exp{-iπKa(tm-x0/v)2}exp{i2lφ+i2lvtm/y0} (4)

其中pr为距离压缩后包络;

以待测目标中心为参考,即y0=R0sinθc,其中θc为场景中心入射角,在方位时域补偿随地距空变的OAM相位项:

s(tm,t,l)≈Aωa(tm-x0/v)pr(t-2R0/c)

exp{-iπKa(tm-x0/v)2}exp{i2lφ} (5)

方位压缩:

将回波相位做干涉处理,反演目标高程信息。

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