[发明专利]电子部件测试用分选机

说明书

本发明涉及一种电子部件测试用分选机，根据本发明的电子部件测试用分选机包括：加压器，用于对电子部件进行加压；接触板，夹设于电子部件与构成加压器的推动件之间，其中，在接触板的接触帽配备有温度测量器，通过由温度测量器获取的温度信息控制温度调节部调节电子部件的温度。根据本发明，确保温度测量器的稳定性并能够精确测量关于电子部件的温度，能够掌握推动件与接触帽之间的不良接触等，从而防止不良测试，进而提供测试及设备的可靠性。

技术领域

本发明涉及一种用于测试生产的电子部件的分选机，尤其涉及对电子部件加压的加压部及电子部件的温度调节。

背景技术

分选机是支持制造的电子部件能够被测试机测试并根据测试结果按等级对电子部件进行分类的设备。

分选机已通过韩国公开专利10-2002-0053406号(以下称为“现有技术1”)及日本公开专利2011-247908号(以下称为“现有技术2”)等多篇专利文献公开。

图1是关于现有的分选机TH的示意图。

现有的分选机TH包括供应部SP、加压部PP及回收部WP。

供应部SP将装载于客户托盘(customer tray)的电子部件供应至加压部PP。

加压部PP对由供应部SP供应的电子部件朝向与测试机的主体连接的插座板(Socket board)SB侧进行加压，从而使电子部件电连接于测试机(Tester)。在此，在插座板SB配备有与电子部件电连接的多个测试插槽(Test Socket)TS。

回收部WP在从加压部PP回收完成测试的电子部件之后根据测试结果进行分类并将其装载于空的客户托盘。

如上所述的供应部SP、加压部PP及回收部WP可以根据分选机TH的使用目的具有多种形态及构成。

本发明涉及如上所述的构成中的加压部PP及温度调节功能。

如图2的示意图中所示，加压部PP包括加压器210'(在现有技术1中称为“分度头(Index head)”，在现有技术1中称为“压迫装置”)、竖直移动器220'及水平移动器230'。

加压器210'具有推动件(pusher)212'，用于对各个电子元件朝向对应的测试插槽TS(在现有技术2中称为“检查用插座”)进行加压。

如图3所示，推动件212'通过加压部位PR的下表面对电子部件D进行加压。并且，推动件212'通过加压部位PR的下表面利用真空压吸附和抓持电子部件D。为此，在推动件212'形成有能够施加真空压的真空路VW。这种推动件212'配备有用于感测推动件212'自身温度的温度传感器212'c。通过该温度传感器212'c能够间接感测被推动件212'加压的电子部件的温度。

加压器210'在抓持电子部件的状态下下降，从而使电子部件电连接于位于插座板SB的测试插槽TS。为此，加压器210'构成为能够前后水平移动以及上下竖直移动。

竖直移动器220'通过使加压器210'升降，使压器210'向插座板SB侧前进或后退。当通过加压器210'从电子部件移动梭(在现有技术2中称为“滑动台”)抓持电子部件或者解除抓持时以及当将电子部件D电连接至测试插槽TS或者解除连接时进行如上所述的竖直移动器220'的操作。

水平移动器230'使加压器210'沿前后方向水平移动。在此，加压器210'的水平移动在移动梭的上方支点和插座板SB的上方支点时进行。

另外，电子部件在测试过程中会发生自热(self heating)。尤其，诸如CPU等需要运算的电子部件的自热非常大。并且，自热会提高电子部件的温度，这妨碍电子部件在保持符合测试条件的合适的温度的状态下进行测试。