[发明专利]快速检验组立精度结构及其方法

权利要求书

1.一种快速检验组立精度结构，其特征在于，包括：

一第一透光导电薄膜，具有至少一第一条码，该第一条码具有复数第一基准条码区块，每一该第一基准条码区块具有一条码读数；

一第二透光导电薄膜，用于与该第一透光导电薄膜互相重叠组合，具有与该第一条码互相对应之至少一第二条码，该第二条码之条码形状相同于该第一条码，具有一第二基准条码区块以及复数第二偏移条码区块，该复数第二偏移条码区块分别较该第一基准条码区块向左或向右偏移一偏移间距，其中，每一该第一基准条码区块之条码形状都不同，且该第二基准条码区块以及每一该第二偏移条码区块之条码形状都不同，每一该第二偏移条码区块较每一该第一基准条码区块的偏移量不同；以及

一条码扫描器，该条码扫描器预先储存有得到的该条码读数代表的不同偏移量，用以扫描互相重叠组合之该第一透光导电薄膜以及该第二透光导电薄膜， 当该第一条码以及该第二条码互相重叠时，则该条码扫描器读取到至少一该第一基准条码区块，该条码扫描器得到对应于至少一该第一基准条码区块之该条码读数，并且通过扫码获得条码读数，获得该第一透光导电薄膜以及该第二透光导电薄膜贴合时的偏移量。

2.如权利要求1所述之快速检验组立精度结构，其中该第一透光导电薄膜以及该第二透光导电薄膜为氧化铟锡薄膜。

3.如权利要求1所述之快速检验组立精度结构，其中各该第一条码设置于该第一透光导电薄膜上之方向不同。

4.如权利要求3所述之快速检验组立精度结构，其中各该第一条码分别设置于该第一透光导电薄膜上之水平方向以及垂直方向。

5.如权利要求1所述之快速检验组立精度结构，其中各该第二条码设置于该第二透光导电薄膜上之方向不同。

6.如权利要求5所述之快速检验组立精度结构，其中各该第二条码分别设置于该第二透光导电薄膜上之水平方向以及垂直方向。

7.一种快速检验组立精度方法，其特征在于，至少包括以下步骤：

（110）提供一第一透光导电薄膜以及一第二透光导电薄膜，该第一透光导电薄膜具有至少一第一条码，该第一条码具有复数第一基准条码区块，每一该第一基准条码区块具有一条码读数，该第二透光导电薄膜具有与该第一条码互相对应之至少一第二条码，该第二条码之条码形状相同于该第一条码，具有一第二基准条码区块以及复数第二偏移条码区块，该复数第二偏移条码区块分别较该第一基准条码区块向左或向右偏移一偏移间距，其中，每一该第一基准条码区块之条码形状都不同，且该第二基准条码区块以及每一该第二偏移条码区块之条码形状都不同，每一该第二偏移条码区块较每一该第一基准条码区块的偏移量不同；

（120）重叠组合该第一透光导电薄膜以及该第二透光导电薄膜；

（130）使用一条码扫描器扫描互相重叠组合之该第一透光导电薄膜以及该第二透光导电薄膜，该条码扫描器预先储存有得到的该条码读数代表的不同偏移量；以及

（140）当该第一条码以及该第二条码互相重叠时，则读取到至少一该第一基准条码区块，得到对应于至少一该第一基准条码区块之该条码读数，并且通过扫码获得条码读数，获得该第一透光导电薄膜以及该第二透光导电薄膜贴合时的偏移量。