[发明专利]一种用于对铸件的X射线图像进行分析和显示的方法有效

专利信息
申请号: 201811394409.0 申请日: 2018-11-21
公开(公告)号: CN109584224B 公开(公告)日: 2023-01-13
发明(设计)人: 亚历山大·鲁斯莱 申请(专利权)人: 苏州安路特汽车部件有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 陶海锋
地址: 215123 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 铸件 射线 图像 进行 分析 显示 方法
【说明书】:

发明公开了一种用于对铸件的X射线图像进行分析和显示的方法,包括以下步骤:a.获得X射线图像;b.进行预处理,获取每幅图像中缺陷的位置、类型、大小及该图像的生成时间,构建X射线图像数据库;c.选定至少一个待分析的视图,从数据库中获取对应各视图的X射线图像数据,对应每一视图构建虚拟网格;d.确定分析图像的时间范围,统计每个网格中在该时间范围内对应的图像中出现缺陷的数据;e.对步骤d中获得的数据进行区域滤波,获得缺陷数据集;f.根据缺陷数据集,对缺陷情况采用不同的颜色表示,叠加显示在铸件图像上,获得对铸件缺陷的直观表达图像。本发明可以根据要求分析和显示不同时间范围内的缺陷的变化情况,能直观显示缺陷的分布。

技术领域

本发明涉及一种对金属铸件进行检测分析的方法,具体涉及一种对铸件的X射线图像进行分析和显示的方法。

背景技术

对金属铸件进行X射线分析,是进行铸件缺陷检测的一种无损分析方法。通过记录X射线穿过金属铸件的衰减情况,在不破坏铸件本体的前提下,得到与铸件内部相关的图像,从而判断内部气孔、夹渣、疏松等缺陷分布情况。

为了实现快速准确的分析,本领域引入了图像处理技术,对图像进行特征提取和缺陷分类。但是,在铸件缺陷分析中,如何显示不同铸造条件对于铸件质量的影响,以改进铸造工艺,是目前的X射线图像分析系统难以实现的。

因此,有必要提供对X射线图像进行基于时间和方向的自动缺陷分析和显示,并通过特定的方法实现对缺陷的直观显示。

发明内容

本发明的发明目的是提供一种用于对铸件的X射线图像进行分析和显示的方法,实现基于时间和方向的X射线图像缺陷分析以及缺陷直观显示。

为达到上述发明目的,本发明采用的技术方案是:一种用于对铸件的X射线图像进行分析和显示的方法,包括以下步骤:

a. 采用X射线分析设备对待分析的各个铸件的不同视图进行检测,获得X射线图像;

b. 采用计算机对X射线图像进行预处理,获取每幅图像中缺陷的位置、类型、大小及该图像的生成时间,并记录在该图像数据中,构成X射线图像数据库;

c. 选定至少一个待分析的视图,从数据库中获取对应各视图的X射线图像数据,对应每一视图构建虚拟网格;

d. 确定分析图像的时间范围,统计每个网格中在该时间范围内对应的图像中出现缺陷的数据;

e. 对步骤d中获得的数据进行区域滤波,获得滤波状态下的缺陷数据集;

f. 根据缺陷数据集,对缺陷情况采用不同的颜色表示,叠加显示在铸件图像上,获得对铸件缺陷的直观表达图像。

上述技术方案中,步骤c中,所述虚拟网格的大小可以根据分析需求设定,最小可以是1个像素构成一个网格。

步骤d中,区域滤波的方法为,给出设定大小的窗口,将对应窗口内的数据取平均值。

优选地,所述窗口为正方形窗口,窗口边长为2~4个虚拟网格。

步骤f中,所述不同颜色的表示方法为,采用一种与铸件图像颜色不同的颜色作为缺陷的表达颜色构成色块,根据缺陷数据确定色块的透明度,获得缺陷的直观表达图像。

进一步的技术方案,在步骤e和f之间,进行背景处理,去除缺陷数据值小于设定阈值的网格对应的缺陷数据。

优选地,所述设定阈值为最大缺陷数据值的一半。

由于上述技术方案运用,本发明与现有技术相比具有下列优点:

1、本发明通过对时间范围内的缺陷的统计,获得了与时间相关的缺陷的情况,可以根据要求分析和显示不同时间范围内的缺陷的变化情况;

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