[发明专利]物理除水解低聚硅氧烷中水分的装置及方法在审
申请号: | 201811396626.3 | 申请日: | 2018-11-22 |
公开(公告)号: | CN109289310A | 公开(公告)日: | 2019-02-01 |
发明(设计)人: | 彭金鑫;王新良;罗燚;胡敬辉;肖露;刘少君;曾松华;吴浩 | 申请(专利权)人: | 合盛硅业股份有限公司 |
主分类号: | B01D36/00 | 分类号: | B01D36/00 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 刘昕;南霆 |
地址: | 314201 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 低聚硅氧烷 分离滤芯 过滤器 聚结滤芯 混合物 水解 聚结分离器 储水机构 一端连接 顶部设置 固体杂质 碱催化剂 颗粒杂质 设备装置 水分降低 油水分离 出料口 二甲基 进料口 工段 除水 环体 裂解 滤除 过滤 申请 | ||
1.一种物理除水解低聚硅氧烷中水分的装置,其特征在于,包括:过滤器、聚结分离器和储水机构;
所述过滤器用于过滤低聚硅氧烷混合物的颗粒杂质,所述过滤器上设置进料口;
所述聚结分离器包括聚结滤芯和分离滤芯,所述聚结滤芯与所述分离滤芯串联连接;
所述聚结滤芯用于滤除低聚硅氧烷混合物中的固体杂质,所述聚结滤芯一端连接所述过滤器;
所述分离滤芯用于油水分离,且所述分离滤芯一端连接所述储水机构,所述分离滤芯顶部设置出料口。
2.根据权利要求1所述的物理除水解低聚硅氧烷中水分的装置,其特征在于,还包括:设置于所述出料口上的出料管,所述出料管上设置流量计,所述流量计与控制器连接。
3.根据权利要求2所述的物理除水解低聚硅氧烷中水分的装置,其特征在于,在所述流量计与所述分离滤芯之间的所述出料管上设置第一压力表,所述第一压力表与所述控制器连接;和/或
设置于所述进料口上的进料管,所述进料管上设置第二压力表,所述第二压力表与所述控制器连接。
4.根据权利要求2所述的物理除水解低聚硅氧烷中水分的装置,其特征在于,在所述过滤器与所述聚结分离器之间设置连接管,所述连接管上设置温度监测单元,所述温度监测单元与所述控制器连接。
5.根据权利要求3所述的物理除水解低聚硅氧烷中水分的装置,其特征在于,在所述第二压力表前方的所述进料管上设置控制阀;或/和
在所述流量计后方的所述出料管上设置调节阀。
6.根据权利要求1所述的物理除水解低聚硅氧烷中水分的装置,其特征在于,所述聚结滤芯为PH-FF滤芯;和/或
所述分离滤芯为SCHF滤芯。
7.根据权利要求1所述的物理除水解低聚硅氧烷中水分的装置,其特征在于,所述过滤器采用滤袋式过滤器。
8.一种采用权利要求1~7任一项所述的装置物理除水的方法,其特征在于,包括:
过滤低聚硅氧烷混合物的颗粒杂质,得到粗过滤低聚硅氧烷;
过滤所述粗过滤低聚硅氧烷的固体杂质,且将水滴聚结成水珠;
所述水珠自重沉降,得到精过滤低聚硅氧烷;
对所述精过滤低聚硅氧烷进行油水分离,得到低含水量的低聚硅氧烷。
9.根据权利要求8所述的物理除水的方法,其特征在于,在所述过滤低聚硅氧烷的颗粒杂质,得到粗过滤低聚硅氧烷的方法之前包括:
调节低聚硅氧烷的流量和温度;和/或
调节进料处和出料处的压力值。
10.根据权利要求9所述的物理除水的方法,其特征在于,所述调节低聚硅氧烷的流量和温度的方法具体为:
控制进料和出料的流速,流速控制在3~5m3/h;
温度为70-75℃。
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