[发明专利]一种参数校验的方法和装置

说明书

本发明公开了一种用于参数校验的方法和装置，涉及计算机技术领域。该方法的一具体实施方式包括：配置一个或多个参数校验规则，所述参数校验规则包括业务类，所述业务类的参数以及应用于所述参数的校验规则；接收参数校验请求，所述参数校验请求指示了需要进行参数校验的第一业务类；根据所述参数校验规则，对所述第一业务类的一个或多个参数进行处理。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种参数校验的方法和装置。

背景技术

业务系统在处理业务时，通常需要与其他业务系统或数据处理中心进行参数传递。其中，参数校验是业务调用过程中很重要的一个环节。例如，对参数进行非空校验、长度校验；对参数进行加密处理、解密处理；对参数进行加敏处理(即，将参数中的一部分变为例如“*”的通用字符)、脱敏处理(即，将参数中的例如“*”的通用字符变为原始值)，等等。

目前，业务系统之间或业务系统与数据处理中心之间通常采用如下方式进行参数传递，例如，在业务中采用硬编码的方式，对该业务的参数进行自行校验；再例如，利用Java的注释机制，在业务中需要进行参数校验的位置添加相应的注释，以校验该参数。

在实现本发明过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：

现有的参数校验方式不够灵活，例如，当对参数的校验规则反生变化时，往往需要修改业务代码，进而导致重新发布业务。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种参数校验的方法及装置，能够对多个业务统一进行参数校验，减少了业务系统的开发工作量，并且可以根据实际需要，在不影响现有业务代码的情况下，灵活改变参数校验规则。

为实现上述目的，根据本发明实施例的第一方面，提供了一种用于参数校验的方法，其特征在于，包括：配置一个或多个参数校验规则，所述参数校验规则包括业务类，所述业务类的参数以及应用于所述参数的校验规则；接收参数校验请求，所述参数校验请求指示了需要进行参数校验的第一业务类；根据所述参数校验规则，对所述第一业务类的一个或多个参数进行处理。

可选地，所述用于参数校验的方法，其特征在于，还包括：使用Java Spring框架中的Map类型来配置所述参数校验规则，其中，所述Map类型中的关键字(Key)为所述业务类，所述Map类型中的值(Value)为由所述业务类的参数以及应用于所述参数的校验规则组成的另一个Map类型。

可选地，所述用于参数校验的方法，其特征在于，还包括：根据所接收到的参数校验请求，利用Java反射机制获取所述第一业务类；在所述一个或多个参数校验规则中，查找是否存在关于所述第一业务类的参数校验规则，在存在关于所述第一业务类的参数校验规则的情况下，根据所述校验规则对所述第一业务类的一个或多个参数进行处理。

可选地，所述用于参数校验的方法，其特征在于，在下列一个或多个情况下，产生对于所述第一业务类的异常，并对所述异常进行处理：在所述一个或多个参数校验规则中不存在关于所述第一业务类的参数校验规则，所述参数校验规则未指示所述第一业务类的一个或多个参数，根据所述校验规则所述第一业务类的一个或多个参数未通过校验。

可选地，所述用于参数校验的方法，其特征在于，所述应用于所述参数的校验规则包括下列中的一个或多个：所述参数的长度是否超过预定长度，所述参数的值是否在预定范围内、所述参数是否为空值、所述参数是否需要加密、所述参数是否需要解密、是否需要将所述参数中的一部分变为通用字符、是否需要将所述参数中的通用字符变为原始值。

可选地，所述用于参数校验的方法，其特征在于，通过面向切面编程(AspectOriented Programming，AOP)的方式实现所述方法。