[发明专利]发光光源结构、圆柱类工件检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 201811402315.3 申请日: 2018-11-23
公开(公告)号: CN109459447B 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 曹彬 申请(专利权)人: 菲特(天津)检测技术有限公司
主分类号: G01N21/952 分类号: G01N21/952;G01N21/01;G01B11/30
代理公司: 天津盈佳知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12224 代理人: 孙宝芸
地址: 300308 天津市滨海新区自贸试验区(空港经济*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 发光 光源 结构 圆柱 工件 检测 装置 方法
【说明书】:

发明公开了一种发光光源结构、圆柱类工件检测装置及检测方法,一种圆柱类工件检测装置用于圆柱类工件的圆周表面的缺陷检测,发光光源结构包括密闭箱体和光源,密闭箱体的一侧面为透光片,透光片的中心环形阵列有多个遮光条,多个遮光条间隔一定距离呈螺旋线状均布于遮光片上。包括成像设备和发光光源结构,圆柱类工件位于成像设备和发光光源结构之间,成像设备的光心、圆柱类工件的轴心和发光光源结构的中心位于同一条轴线上。圆柱类工件检测方法通过圆柱类工件检测装置拍摄的实时图像输送人算法模块判断处理后将对比结果输出。本发明通过光源透过具有螺旋线状遮光条的透光片,通过镜像实现快速缺陷检测,检测精度高,设备成本低,方法简单。

技术领域

本发明属于工件检测器具技术领域,特别涉及一种发光光源结构、圆柱类工件检测装置及检测方法。

背景技术

目前,圆柱类工件的圆周表面,例如圆筒状结构的内壁的凸起或凹陷检测一直存在困难,尤其是在几微米质检的缺陷检测,检测精度低,检测难度大。

发明内容

针对现有技术中存在的技术问题,本发明提供一种发光光源结构、圆柱类工件检测装置及检测方法。

为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:

一种发光光源结构,包括密闭箱体和光源,所述密闭箱体的一侧面为透光片,所述透光片的中心环形阵列有多个遮光条,多个所述遮光条间隔一定距离呈螺旋线状均布于遮光片上。

作为优选,所述遮光条为黑色墨条。

作为优选,所述遮光条的宽度从透光片的中心向外逐渐变宽。

作为优选,所述遮光条的螺旋线角度为30°~150°。

作为优选,所述遮光条的螺旋线角度为80°~120°。

作为优选,所述遮光条的个数为60~200。

一种圆柱类工件检测装置,用于圆柱类工件的圆周表面的缺陷检测,包括成像设备和如上所述的发光光源结构,所述圆柱类工件位于成像设备和发光光源结构之间,所述成像设备的光心、圆柱类工件的轴心和发光光源结构的中心位于同一条轴线上。

作为优选,所述圆柱类工件通过V型块支撑。

作为优选,所述成像设备为相机。

一种圆柱类工件检测方法,采用如上所述的圆柱类工件检测装置,包括如下步骤:

1)打开发光光源结构内的光源;

2)成像设备实时采集图像;

3)判断图像是否最理想,如果是,则图像传输给算法模块,否则将重新回到步骤2);

4)算法模块内储存有合格图像数据,以与实时图像进行对比,算法模块判断处理后将对比结果输出;

5)当输出结果为工件合格,则将工件放入合格品区,当输出结果为工件不合格,则将工件放入不合格品区;

6)检测下一个圆柱类工件。

本发明的发光光源结构、圆柱类工件检测装置及检测方法,具有以下有益效果:本发明通过使光源透过具有螺旋线状遮光条的透光片,通过镜像实现快速缺陷检测,检测精度高,设备成本低,方法简单。

附图说明

图1为本发明中的发光光源结构的密闭箱体的主视结构示意图;

图2为本发明中的筒内壁检测装置的立体结构示意图;

图3为本发明中的圆柱类工件检测方法的流程结构示意图;

图4为本发明中的圆柱类工件检测方法检测的不合格圆柱类工件的成像图(一);

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