[发明专利]一种自带AD9361芯片的系统的多通道测试方法及装置

说明书

本发明公开了一种自带AD9361芯片的系统的多通道测试方法及装置，配置AD9361模块，进入校正模式，由信号源发射正交单音信号；利用AD9361模块的发射功能发射单音信号，同时利用系统自带的多个AD9361通道进行校正数据的接收；对所有通道接收数据进行计算，然后进入验证模式，由信号源发送单载波信号；利用AD9361模块的发射和接受验证数据，利用计算得到的每个通道的延迟、幅度和相位值，对每个通道进行参数补偿；对验证数据进行接收和观察，如果接收到的信号对应的延迟、幅度和相位完全一致，则说明测试方法有效。本发明提出的方法通用性高，不需要额外的硬件设计，仅需要提供合理的计算资源即可；本发明提出的方法简单易行，能够满足各种场景下的使用需求。

技术领域

本发明涉及一种通信系统中通道参数测试技术，尤其涉及的是一种自带AD9361芯片的系统的多通道测试方法及装置。

背景技术

在通信系统中，通常需要多个发射通道或者接收通道同时使用，以提升系统性能，为此必须确保多个通道的通道参数保持一致，以确保系统性能正常。

目前商业通信系统中通常采用AD9361芯片来作为系统的收发通道。为了确保多个AD9361通道的通道参数一致性，一般都需要进行精确的硬件设计与通信协议设计来保证。该方法实现难度较高，一来硬件设计难度较高，尤其是针对成千上万个通道进行精确设计，成本和难度非常大，一致性很难保证，同时需要的技术协议通常为商用技术协议，这些都使得AD9361的使用具备局限性，难以推广到像卫星通信等专用通信领域。

现有的针对AD9361芯片的系统的多通道一致性设计需要复杂而精确的硬件设计，成本随着通道数的增加而急剧增加，现有技术针对AD9361芯片的通道测试常采用商用的通信技术协议，局限性较大，现有技术对AD9361芯片的通道测试通常需要专业人员和专门的测试仪器仪表。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于：如何降低难度实现对自带AD9361芯片的系统测试，提供了一种自带AD9361芯片的系统的多通道测试方法及装置。

本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的，本发明的一种自带AD9361芯片的系统的多通道测试方法，包括以下步骤：

(1)配置AD9361模块，关闭AD9361模块的接收通道的IQ校正跟踪功能；

(2)进入校正模式，由信号源发射I路为sin，Q路为cos的正交单音信号；

(3)利用AD9361模块的发射功能发射单音信号，同时利用系统自带的多个AD9361通道进行校正数据的接收；

(4)对所有通道接收数据进行计算，其中第i个通道采样得到的数据分别为其中m为最终的采样数；

对于该采样数，顺序依次滑动采样N个采样值，并计算其中|P(k)|绝对值最大的对应的k^*值为对应通道的延迟，|P(k^*)|为对应通道的幅值，angle(P(k^*))为对应通道的相位值；

(5)然后进入验证模式，由信号源发送I路为单载波，Q路为0值的单载波信号；

(6)利用AD9361模块的发射和接受验证数据；

(7)利用计算得到的每个通道的延迟、幅度和相位值，对每个通道进行参数补偿；

(8)对验证数据进行接收和观察，如果接收到的信号对应的延迟、幅度和相位完全一致，则说明测试方法有效。

所述步骤(2)中，正交单音信号采用8倍采样速率，单音信号点数为N个，其中N可以根据系统接收的信噪比进行调整，N越大，系统计算性能越好。

所述步骤(3)中，接收为8倍采样速率。