[发明专利]多孔金属有机配合物作为探针在荧光检测铝离子中的应用

权利要求书

1.多孔金属有机配合物作为探针在荧光检测铝离子中的应用，其特征在于：所述的多孔金属有机配合物的结构单元为[(CH₃)₂NH₂][Mg₃(OH)(DHBDC)₃(PTP)]，式中DHBDC代表脱去两个-COOH上氢原子的2,5-二羟基对苯二甲酸二价阴离子，PTP代表4'-(4-吡啶)-4,2':6',4-三联吡啶；该配合物属于六方晶系，P6(3)/mmc空间群，晶胞参数为α＝90°，β＝90°，γ＝120°。

2.根据权利要求1所述的多孔金属有机配合物作为探针在荧光检测铝离子中的应用，其特征在于具体检测方法为：将多孔金属有机配合物均匀分散于N,N-二甲基乙酰胺中，配制浓度为1～4mg/mL的配合物悬浊液，然后将滤纸在所得悬浊液中浸渍1～2分钟，取出滤纸真空干燥后放在暗厢中，在滤纸上喷洒待测样品溶液，若滤纸颜色变为亮蓝色，说明待测样品溶液中含有铝离子。

3.根据权利要求1所述的多孔金属有机配合物作为探针在荧光检测铝离子中的应用，其特征在于具体检测方法为：

(1)将多孔金属有机配合物均匀分散于N,N-二甲基乙酰胺中，配制浓度为1～4mg/mL的配合物悬浊液，然后向所得悬浊液中加入不同浓度铝离子标准样品，采用荧光分光光度计检测不同浓度铝离子对应体系的荧光光谱；当铝离子浓度不大于1.2μmol/L时，绘制铝离子浓度随I/I₀变化的标准曲线，其中I₀是不添加铝离子时体系在505nm处的荧光强度，I是添加不同浓度的铝离子后对应体系在505nm处的荧光强度；当铝离子浓度为4.2～15μmol/L时，绘制铝离子浓度随I'/I_4.2变化的标准曲线，其中I_4.2是铝离子浓度为4.2μmol/L时对应体系在460nm处的荧光强度，I'是添加不同浓度的铝离子后对应体系在460nm处的荧光强度；

(2)按照步骤(1)的方法用荧光光谱仪测量待测铝离子样品的荧光光谱，若其最大荧光强度峰在505nm处，结合步骤(1)中铝离子浓度随I/I₀变化的标准曲线的线性方程计算待测样品中铝离子的浓度；若其最大荧光强度峰在460nm处，结合步骤(1)中铝离子浓度随I'/I_4.2变化的标准曲线的线性方程计算待测样品中铝离子的浓度。