[发明专利]一种光电探测/对抗产品的全向探测性能测试系统

说明书

本发明涉及一种光电探测/对抗产品的性能测试系统，设备包括被测件安装框架、安装平台、方位转台、光学对准装置、目标模拟器和控制柜。被测件安装框架用于承载受试产品；安装平台用于给整个测试系统提供水平基础；方位转台用于方位一维运动环境；目标模拟器用于提供可见光和红外特征目标；控制柜用于实现产品摆镜与方位转台的同步运动交联，同时提供产品与转台位置数据的以太网时钟同步。

技术领域

本发明涉及一种光电探测/对抗产品的性能测试系统，属于光电测试技术领域。

背景技术

全向探测感知能力是机载光电探测/对抗产品在方位360°运动范围内对周围环境的特定目标进行探测、识别的能力，针对该核心技术测试，实验室多采用以产品摆镜方位轴为中心的圆周上分布多个目标模拟器，从而进行全向目标探测能力测试试验。但由于该方法需多个目标模拟器，成本高；且每个目标模拟器摆放位置需与产品光轴方向一致，对准难度及实验环境搭建时间较长。且现有实验室环境只能实现静态探测精度测试，无法实现动态探测精度测试。

本发明采用具有1.55m悬臂的单轴方位转台上固定单个目标模拟器的方式，利用自适应闭环控制系统控制转台与产品摆镜同步同向运动，并配合目标模拟器周期地呈现特定目标，可有效模拟360°运动范围内产品动态探测感知环境。同时，利用基于IEEE1588协议的以太网时钟同步技术实现目标模拟器与产品的实时位置对比，从而得到产品的动态探测精度。该测试系统利用一个一维转台和单个目标模拟器就可实现原实验室中多个目标模拟器所搭建的测试环境，且对准便捷快速，成本较低；在不更换目标模拟器位置的情况下，便可实现360°全向范围内任意位置的探测感知能力考核，提升了测试环境的全面性。利用时钟同步技术实现探测精度测试，且测试精度高。

发明内容

要解决的技术问题

为了避免现有技术的不足之处，本发明提出一种光电探测/对抗产品的性能测试系统。

技术方案

一种光电探测/对抗产品的性能测试系统，其特征在于包括被测件安装框架、安装平台、方位转台、光学对准装置、目标模拟器和控制柜；其中，控制柜和方位转台中均配备支持IEEE 1588协议的PTP对时板卡；被测件安装框架用于安装受试产品；方位转台与目标模拟器配合构成可一维运动的可见光/红外模拟目标；光学对转装置用于目标模拟器光轴中心与受试产品光轴中心快速对准；各部件之间的位置关系：被测件安装框架和方位转台安装在安装平台上，目标模拟器固定在方位转台悬臂末端的平台上，光学对转装置在目标模拟器光学出口的最前端，与目标模拟器安装在同一平台上；控制柜与方位转台和产品交联，向方位转台和产品中的对时卡授时，控制方位转台运动，并接收方位转台和产品反馈的位置信息数据。

一种自适应闭环控制方法，以控制柜中对时卡为主钟，同时对产品和方位转台中的对时卡授时，使产品和方位转台的时钟同步精度可达微秒级；其特征在于步骤如下：

步骤1：首先，调校产品摆镜零位与转台零位一致，圆周运动时顺时针和逆时针方向定义一致；

步骤2：在产品全向探测过程中，产品将摆镜位置信息实时反馈给控制柜，控制柜将该位置信息与摆镜零位间的差值作为转台运动输入激励和闭环反馈数据，该差值为矢量信号用于转台运动方向的判断；

步骤3：转台将自己的实时位置信息反馈至控制柜，控制柜根据转台与摆镜间位置的偏差，不断调整转台电机的输出能力，使摆镜和转台的实时位置偏差调整接近于零，并保持该差值为零的状态，从而实现产品摆镜与转台的同步同向运动。

有益效果

本发明提出的一种光电探测/对抗产品的性能测试系统，有益效果如下：