[发明专利]一种光电耦合测试系统

说明书

本发明公开了一种光电耦合测试系统，所述光电耦合系统包括前级电路、后级电路，所述前级电路包括电源、第一开关和发光二极管，所述发光二极管与前级电路电连接，所述发光二极管、第一开关和电源配合设置使前级电路形成闭合电路，所述后级电路包括第二开关、光敏电阻和欧姆表，所述光敏电阻与后级电路电连接，所述光敏电阻、第二开关和欧姆表配合设置使后级电路形成闭合电路，所述发光二极管与光敏电阻相邻，所述欧姆表与光敏电阻并联，所述电源为电压可变电源。本发明设计结构合理，它能够有效的避免前级电路与后级电路闭合时的额电阻大小对系统的影响，能够有效的保证测试的成功，能够有效的实现对光电耦合现象的测试。

技术领域

本发明涉及光电耦合技术领域，具体是一种光电耦合测试系统。

背景技术

放大电路一般是要分为好几级的，但是不管怎么样如果你用阻容元件的话，上下级电路总会发生或多或少的互相牵制互相影响，但是用了光电耦合器以后，这种顾虑就完全消失了，光电耦合器是以光为媒介传输电信号的一种电一光一电转换器件。

光电耦合一般采用光电耦合器实现，无法有效的实现对光电耦合现象直观的进行观察，造成无法有效的讲述光电耦合现象，为此，我们提出一种光电耦合测试系统。

发明内容

一)解决的技术问题

本发明的目的就是为了弥补现有技术的不足，提供了一种光电耦合测试系统。

二)技术方案

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种光电耦合测试系统，所述光电耦合系统包括前级电路、后级电路，所述前级电路包括电源、第一开关和发光二极管，所述发光二极管与前级电路电连接，所述发光二极管、第一开关和电源配合设置使前级电路形成闭合电路，所述后级电路包括第二开关、光敏电阻和欧姆表，所述光敏电阻与后级电路电连接，所述光敏电阻、第二开关和欧姆表配合设置使后级电路形成闭合电路，所述发光二极管与光敏电阻相邻，所述欧姆表与光敏电阻并联，所述电源为电压可变电源，所述光电耦合现象作用于光电耦合器，所述光电耦合器以光为媒介传输电信号，所述光电耦合器对输入、输出电信号有良好的隔离作用，所述光电耦合器在各种电路中得到广泛的应用，所述光电耦合器是以光为媒介传输电信号的一种电一光一电转换器件，所述光电耦合器由发光源和受光器两部分组成，所述发光源和受光器组装在同一密闭的壳体内，且彼此间用透明绝缘体隔离，所述发光源的引脚为输入端，所述受光器的引脚为输出端，所述发光源为发光二极管，所述受光器为光敏二极管、光敏三极管，所述光电耦合器输入端加电信号使发光源发光所述光的强度取决于激励电流的大小，所述光照射到封装在一起的受光器上后，所述光电效应而产生了光电流，所述受光器输出端引出，所述光电耦合器内部由于发光管和受光器之间的耦合电容很小通过极间耦合电容对输出电流的影响很小，所述光电耦合测试系统利用光电耦合器的设计原理测试。

进一步的，所述发光二极管与光敏电阻正相对，且发光二极管与光敏电阻高度相同。

通过采用上述技术方案，使一种光电耦合测试系统能够有效的保证发光二级管对准光敏电阻，能够有效的降低外界因素对系统的影响。

进一步的，所述欧姆表的最大值大于光敏电阻的最大值，且欧姆表的连接柱开设有卡槽。

通过采用上述技术方案，使一种光电耦合测试系统能够有效的保证后级电路形成正常闭合电路，能够有效的保证欧姆表连接的固定效果。

进一步的，所述后级电路与前级电路均利用同种电线形成闭合回路，且电线长度相同。

通过采用上述技术方案，使一种光电耦合测试系统能够有效的避免前级电路与后级电路闭合时的额电阻大小对系统的影响，能够有效的保证测试的成功。

进一步的，所述光电耦合测试系统放置于测试台，且测试台无遮挡物遮挡观察视线。