[发明专利]SSD异常掉电测试方法、装置、计算机设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 201811415667.2 申请日: 2018-11-26
公开(公告)号: CN109524049B 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 刘坚;冯元元;冷志源 申请(专利权)人: 深圳忆联信息系统有限公司
主分类号: G11C29/08 分类号: G11C29/08;G11C29/56
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 冯筠
地址: 518067 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: ssd 异常 掉电 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种SSD异常掉电测试方法,所述方法包括:

获取SSD异常掉电测试请求;

根据所述SSD异常掉电测试请求配置测试设定参数,所述测试设定参数中包括需要掉电的SSD测试机标识;所述测试设定参数中还包括需要掉电的SSD测试机标识对应的掉电方式,所述掉电方式包括随机时间掉电方式、固定时间掉电方式以及时间渐变掉电方式;

将所述测试设定参数发送至控制发送器;

所述控制发送器向多个所述需要掉电的SSD测试机标识对应的电源控制器发送无线信号,以使所述电源控制器根据所述测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试;

所述电源控制器根据所述测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试的步骤还包括所述电源控制器获取所述测试设定参数;根据所述测试设定参数中的掉电方式判断是否采用随机时间掉电;若所述测试设定参数中的掉电方式是随机时间掉电方式,则设置随机掉电的时间范围,以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试;若所述测试设定参数中的掉电方式不是随机时间掉电方式,则设置固定掉电的时间与间隔,以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

2.一种SSD异常掉电测试装置,其特征在于,所述SSD异常掉电测试装置包括:

获取模块,所述获取模块用于获取SSD异常掉电测试请求;

配置模块,所述配置模块用于根据所述SSD异常掉电测试请求配置测试设定参数,所述测试设定参数中包括需要掉电的SSD测试机标识,所述测试设定参数中还包括需要掉电的SSD测试机标识对应的掉电方式,所述掉电方式包括随机时间掉电方式、固定时间掉电方式以及时间渐变掉电方式;

发送模块,所述发送模块用于将所述测试设定参数发送至控制发送器;

控制模块,所述控制模块用于所述控制发送器向多个所述需要掉电的SSD测试机标识对应的电源控制器发送无线信号,以使所述电源控制器根据所述测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试;

所述控制模块还用于所述电源控制器获取所述测试设定参数;根据所述测试设定参数中的掉电方式判断是否采用随机时间掉电;若所述测试设定参数中的掉电方式是随机时间掉电方式,则设置随机掉电的时间范围,以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试;若所述测试设定参数中的掉电方式不是随机时间掉电方式,则设置固定掉电的时间与间隔,以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

3.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1所述方法的步骤。

4.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1所述的方法的步骤。

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