[发明专利]一种信息检测方法、设备及计算机存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种信息检测方法，所述方法包括：获取待测对象的表面参数信息；表面参数信息包括待测对象表面的特征点的参数信息；基于特征点的参数信息，获取与特征点的参数信息对应的像素值，并基于像素值生成第一图像；对第一图像中的对象进行识别得到识别结果，并基于识别结果确定待测对象的表面缺陷信息。本发明实施例同时还公开了一种信息检测设备和计算机存储介质。

技术领域

本发明涉及电子与信息技术领域，尤其是涉及一种信息检测方法、设备及计算机存储介质。

背景技术

产品在生产完成后，需要对产品进行检测，以确定产品的表面是否有缺陷。相关技术中，采用相机拍摄二维图像的方法或者漏磁检测方法对产品的表面进行缺陷检测。然而，在采用相机对进行产品进行拍摄时，会受到光照以及产品上油污的影响，使拍摄得到的图像不能准确反映产品的表面缺陷信息；而漏磁检测方法仅适用于对铁磁材料产品进行检测，且容易对表面缺陷范围大的区域漏检。因此，相关技术中，信息检测设备不能准确检测产品的表面缺陷信息。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明实施例期望提供一种信息检测方法、设备及计算机存储介质，解决相关技术中信息检测设备不能准确检测产品的表面缺陷信息的问题。

本发明的技术方案是这样实现的：

一种信息检测方法，应用于信息检测设备，所述方法包括：

获取待测对象的表面参数信息；所述表面参数信息包括所述待测对象表面的特征点的参数信息；

基于所述特征点的参数信息，获取与所述特征点的参数信息对应的像素值，并基于所述像素值生成第一图像；

对所述第一图像中的对象进行识别得到识别结果，并基于所述识别结果确定所述待测对象的表面缺陷信息。

可选地，所述获取待测对象的表面参数信息，包括：

获取所述待测对象表面的特征点的深度信息；

相应地，所述基于所述特征点的参数信息，获取与所述特征点的参数信息对应的像素值，并基于所述像素值生成第一图像，包括：

基于所述特征点的深度信息，获取与所述特征点的深度信息对应的像素值；

将所述像素值映射在与所述特征点对应的像素点上，并基于所述像素点生成第一图像。

可选地，所述获取所述待测对象表面的特征点的深度信息，包括：

当所述待测对象相对所述信息检测设备在多个预设方向移动时，在每一预设方向上获取所述信息检测设备与所述待测对象表面的特征点的距离信息；

基于所述距离信息确定所述待测对象表面的特征点的深度信息。

可选地，所述当所述待测对象相对所述信息检测设备在多个预设方向移动时，在每一预设方向上获取所述信息检测设备与所述待测对象表面的特征点的距离信息，包括：

获取当所述待测对象相对所述信息检测设备在多个预设方向移动时的移动速度；

基于所述移动速度，确定采集周期；

按照所述采样周期，在每一预设方向上获取所述信息检测设备与所述待测对象表面的特征点的距离信息。

可选地，所述基于所述移动速度，确定采集周期，包括：

获取所述信息检测设备的检测精度；

基于所述移动速度和所述检测精度，确定所述采集周期。

可选地，所述基于所述特征点的参数信息，获取与所述特征点的参数信息对应的像素值，并基于所述像素值生成第一图像，包括：