[发明专利]一种弓形架系统几何性能的误差检测方法

权利要求书

1.一种弓形架系统几何性能的误差检测方法，所述弓形架系统包括弓形架、发射天线、接收天线、被测样板和样板支架，所述弓形架具有上弓形臂和下弓形臂，所述发射天线和接收天线安装在所述上弓形臂和下弓形臂上，所述弓形架具有半圆形轨道，所述半圆形轨道安装在所述半圆形底座上，所述上弓形臂和下弓形臂的一端与所述半圆形轨道圆点处的中心轴活动连接，另一端可沿所述半圆形轨道移动，所述中心轴上安装有测量所述上弓形臂和下弓形臂旋转角度的相对角编码器，所述被测样板安装在所述样板支架上，所述弓形架和被测样板相对放置，其特征在于，包含以下步骤：

测量所述半圆形底座平面度；

检测所述上弓形臂和下弓形臂角度的控制精度；

测量发射天线和接收天线输出端口距被测样板中心的距离；

检测所述发射天线和接收天线与被测样板高度的一致性；

测量所述发射天线和接收天线俯仰角，旋转角和倾斜角；

测量所述样板支架俯仰角、旋转角和倾斜角；

检测所述样板支架的表面位于所述弓形架中心。

2.根据权利要求1所述的弓形架系统几何性能的误差检测方法，其特征在于，所述测量发射天线和接收天线输出端口距被测样板中心的距离，包含以下步骤：

在所述天线支架上安装激光测距仪；

发射激光到被测样板中心；

调整所述激光测距仪位置，使激光焦斑位于被测样板中心线上；

所述距离等于所述激光测距仪读数减去激光测距仪距天线口径的距离，再加上天线的总长度。

3.根据权利要求1所述的弓形架系统几何性能的误差检测方法，其特征在于，测量所述半圆形底座平面度，包含以下步骤：

将水平仪沿所述半圆形底座移动；

观察水平仪的最大移动量。

4.根据权利要求3所述的弓形架系统几何性能的误差检测方法，其特征在于，所述上弓形臂和下弓形臂角度的控制精度等于安装在所述中心轴处的相对角编码器的分辨精度。

5.根据权利要求1所述的弓形架系统几何性能的误差检测方法，其特征在于，检测所述发射天线和接收天线与被测样板高度的一致性，包含以下步骤：

在所述发射天线和接收天线上分别安装水平激光仪；

调整水平激光仪水平；

调整所述发射天线和接收天线与被测样板的高度，使所述水平激光仪发射的激光在所述被测样板的水平中心线上；

高度的调节误差等于激光光束线宽与水平激光仪精度之和。

6.根据权利要求1所述的弓形架系统几何性能的误差检测方法，其特征在于，测量所述发射天线和接收天线俯仰角，包含以下步骤：

在所述发射天线和接收天线支架底座上，沿发射天线和接收天线的放置方向，选择多个位置进行测量；

调整所述支架底座姿态，使数显倾角仪测量值为零；

测量误差为所述倾角仪的测量精度。

7.根据权利要求1所述的弓形架系统几何性能的误差检测方法，其特征在于，测量所述发射天线和接收天线旋转角，包含以下步骤：

在发射天线和接收天线支架底座上，沿发射天线和接收天线垂直方向选择多个位置进行测量；

调节所述支架底座的姿态，使数显倾角仪测量值为零；

测量误差为所述倾角仪的测量精度。

8.根据权利要求1所述的弓形架系统几何性能的误差检测方法，其特征在于，测量所述样板支架旋转角，包含以下步骤：

在所述中心轴内嵌光标激光仪；

在所述样板支架的下边框上做定位标记；

调节样板支架使所述激光仪的十字光标信号与所述定位标记重合；

样板支架旋转角测量误差为激光线宽度和所述定位标记宽度引入的误差。

9.根据权利要求1所述的弓形架系统几何性能的误差检测方法，其特征在于，测量所述样板支架倾斜角，包含以下步骤：

将数显倾角仪分别置于样板的上、下、左和右边框上；

调节使测量值为零；

倾斜角误差为数显倾角仪的测量误差。

10.根据权利要求1所述的弓形架系统几何性能的误差检测方法，其特征在于，检测所述样板支架表面位于弓形架中心，包含以下步骤：

沿所述半圆形轨道移动所述上弓形臂和下弓形臂，同时调整样板支架位置，使激光测距仪的焦斑位于样板支架中心线上。