[发明专利]一种导线电流测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 201811426588.1 申请日: 2018-11-27
公开(公告)号: CN109188067A 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 许爱东;李鹏;李立浧;王志明;明哲;吴质冰 申请(专利权)人: 南方电网科学研究院有限责任公司;中国南方电网有限责任公司
主分类号: G01R19/25 分类号: G01R19/25
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 510663 广东省广州市萝岗区科*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 磁阻芯片 测量装置 导线电流 温漂 磁阻传感器 圆心 便于安装 垂直分布 磁场矢量 高灵敏度 集成度 灵敏度 位置处 制备 测量 采集 申请
【权利要求书】:

1.一种导线电流测量装置,其特征在于,包括壳体,还包括设置于所述壳体内的、用于测量待测导线x轴方向的磁场矢量的x轴一维磁阻芯片、与所述x轴一维磁阻芯片在同一位置且垂直分布、用于测量待测导线y轴方向的磁场矢量的y轴一维磁阻芯片、ADC模块及控制模块,其中:

所述ADC模块的第一输入端与所述x轴一维磁阻芯片的输出端连接,第二输入端与所述y轴一维磁阻芯片的输出端连接;

所述控制模块的输入端分别与所述ADC模块的第一输出端和第二输出端连接,用于根据毕奥-萨伐尔定律、所述x轴一维磁阻芯片与所述待测导线的圆心之间的距离、转换为数字量的x轴方向的磁场矢量和y轴方向的磁场矢量得到所述待测导线的电流值。

2.如权利要求1所述的导线电流测量装置,其特征在于,在所述待测导线与所述壳体的一个点相切时,所述主控模块还用于根据所述x轴一维磁阻芯片到所述壳体的预设点的预设距离、所述预设点到切点的距离、转换为数字量的x轴方向的磁场矢量和y轴方向的磁场矢量得到所述待测导线的截面积;

其中,所述预设点、所述切点及所述待测导线的圆心在一条直线上;所述x轴一维磁阻芯片与所述壳体的预设点的所在直线和所述壳体的预设点与所述待测导线的圆心的所在直线垂直。

3.如权利要求1所述的导线电流测量装置,其特征在于,还包括:

设置于所述x轴一维磁阻芯片的输出端与所述ADC模块的第一输入端之间的第一放大器,用于对x轴方向的磁场矢量进行放大;

设置于所述y轴一维磁阻芯片的输出端与所述ADC模块的第二输入端之间的第二放大器,用于对y轴方向的磁场矢量进行放大。

4.如权利要求1-3任一项所述的导线电流测量装置,其特征在于,还包括:

设置于所述壳体上,用于将所述待测导线固定在所述壳体上的固定装置。

5.如权利要求4所述的导线电流测量装置,其特征在于,所述固定装置为U型卡扣。

6.如权利要求5所述的导线电流测量装置,其特征在于,所述U型卡扣的开口向下,所述U型卡扣的一个端口与所述壳体铰接,另一个端口与所述壳体可拆卸连接。

7.如权利要求6所述的导线电流测量装置,其特征在于,所述壳体设有与所述待测导线相互配合的内凹面。

8.如权利要求5所述的导线电流测量装置,其特征在于,所述U型卡扣为开口向上的弹性卡扣。

9.如权利要求5所述的导线电流测量装置,其特征在于,所述U型卡扣为塑料卡扣。

10.一种导线电流测量方法,其特征在于,应用于如权利要求1-9任一项所述的导线电流测量装置中,该方法包括:

x轴一维磁阻芯片测量待测导线的x轴方向的磁场矢量,y轴一维磁阻芯片测量待测导线的y轴方向的磁场矢量;

ADC模块将所述x轴方向的磁场矢量由模拟量转换为数字量,将所述y轴方向的磁场矢量由模拟量转换为数字量;

控制模块根据毕奥-萨伐尔定律、所述x轴一维磁阻芯片与所述待测导线的圆心之间的距离、转换为数字量的x轴方向的磁场矢量和y轴方向的磁场矢量得到所述待测导线的电流值。

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