[发明专利]一种具有定位功能的扫描测试结构及方法

权利要求书

1.一种具有定位功能的扫描测试结构，其特征在于，包括：具有至少一个扫描寄存器的扫描链和与所述扫描链连接并用于对扫描寄存器采用定位逻辑进行定位标记的定位模块，以使将所述定位模块用于定位标记的标记值随所述扫描链的数据值移出并对所述标记值和所述数据值进行分析判断故障的位置和分布状态；

端口，与扫描链、定位模块串联并用于将扫描链的数据值和定位模块的标记值移出；

故障模块分析模块，用于根据所移出的标记值和数据值与第一预设期望数据进行对比分析确定出故障的位置或分布状态；

故障寄存器分析模块，用于根据所移出的标记值与第二预设期望数据进行对比分析确定出故障的位置或分布状态。

2.根据权利要求1所述的扫描测试结构，其特征在于，所述定位模块设置一对扫描寄存器进行定位标记的标记值，并在系统上电复位后对所述定位模块写入标记值。

3.根据权利要求1所述的扫描测试结构，其特征在于，所述定位模块设置于扫描链输出端或输入端；

或者，所述定位模块设置于所述扫描链内。

4.根据权利要求1-3任一所述的扫描测试结构，其特征在于，所述扫描链与定位模块连接形成的扫描测试链路设置于旁路控制结构、或基于IEEE1500/IEEE1687的扫描链网络结构、或基于JTAG的扫描链网络结构中形成测试结构。

5.根据权利要求1所述的扫描测试结构，其特征在于，所述扫描测试结构还包括将芯片按照功能、或预设参数划分形成的至少一个芯片模块，其中，各芯片模块内的扫描寄存器串联形成的扫描链与芯片模块相对应。

6.一种具有定位功能的扫描测试方法，其特征在于，包括：

系统上电复位，向用于对扫描寄存器采用定位逻辑进行定位标记的定位模块内写入标记值；

停止系统时钟，配置扫描测试的控制信号并进入扫描测试进程；

拉高扫描使能信号，输入扫描测试时钟，将扫描寄存器串联形成扫描链执行扫描测试；

执行移位进程，将扫描寄存器的数据值和定位模块的标记值从端口移出并进行分析判断故障的位置和分布状态；

其中，所述将扫描寄存器的数据值和定位模块的标记值从端口移出并进行分析判断故障的位置和分布状态包括：

将扫描链的数据值和定位模块的标记值从端口移出；

根据所移出的标记值和数据值与第一预设期望数据进行对比分析确定出故障的位置或分布状态；

或者，根据所移出的标记值与第二预设期望数据进行对比分析确定出故障的位置或分布状态。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在所述系统上电复位，向用于对扫描寄存器采用定位逻辑进行定位标记的定位模块内写入标记值之前，所述方法还包括：

按照功能、或预设参数将芯片划分成至少一个芯片模块，并将各芯片模块内的扫描寄存器串联形成与芯片模块对应的扫描链；

在至少一个芯片模块内设置定位模块，并将定位模块与扫描链相连。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所移出的标记值和数据值与第一预设期望数据进行对比分析确定出故障的位置或分布状态包括：

将标记值与第一期望值进行对比分析确定出故障芯片模块；

当确定出故障芯片模块后，继续将故障芯片模块对应扫描链的数据值与第二期望值进行对比分析确定出故障寄存器。