[发明专利]一种星载一维综合孔径微波辐射测量系统及测量方法

权利要求书

1.一种星载一维综合孔径微波辐射测量系统，其特征在于， 包括：

场景辐射计接收机阵列，用于接收场景微波信号和等功率内噪声源相干信号，并输出中频信号；

定标辐射计接收机，用于接收冷空外定标信号和等功率内噪声源相干信号，并通过冷空外定标信号和匹配负载进行标定，以利用标定后的辐射计接收机实时测量等功率内噪声源相干信号；

本振移相网络，所述场景辐射计接收机阵列和定标辐射计接收机共用所述本振移相网络，以使所述本振移相网络向所述场景辐射计接收机阵列和定标辐射计接收机提供所需的本振信号，及通过本振移相网络中的高精度移相器和场景辐射计接收机中的高精度移相器进行移相，补偿各个场景辐射计接收机之间的相位差。

2. 如权利要求 1 所述的星载一维综合孔径微波辐射测量系统，其特征在于，所述场景辐射计接收机阵列由多个场景辐射计接收机构成。

3. 如权利要求 2 所述的星载一维综合孔径微波辐射测量系统，其特征在于，所述场景辐射计接收机和定标辐射计接收机均包括射频前端和接收机中频。

4. 如权利要求 3 所述的星载一维综合孔径微波辐射测量系统，其特征在于， 所述射频前端依次包括馈源喇叭、匹配负载、开关、隔离器、第一低噪声放大器、温补衰减器、混频器和第二低噪声放大器；

所述开关在所述定标辐射计接收机中用于切换冷空外定标信号、匹配负载和等功率内噪声源相干信号；

所述开关在所述场景辐射计接收机中用于切换场景微波信号、匹配负载和等功率内噪声源相干信号。

5.如权利要求 3 所述的星载一维综合孔径微波辐射测量系统，其特征在于，所述接收机中频包括中频放大器和第一高精度移相器。

6.如权利要求 1 所述的星载一维综合孔径微波辐射测量系统，其特征在于，所述本振移相网络依次包括本振、第二高精度移相器、第三低噪声放大器和功分器网络。

7. 一种利用权利要求 1-6 任一项所述的星载一维综合孔径微波辐射测量系统的测量方法，其特征在于，包括步骤：

定标辐射计接收机通过开关切换冷空外定标信号、匹配负载和等功率内噪声源相干信号，利用冷空外定标信号和匹配负载进行两点标定，从而标定辐射计接收机，以利用标定后的辐射计接收机实时测量等功率内噪声源相干信号；

场景辐射计接收机通过开关切换场景微波信号、匹配负载和等功率内噪声源相干信号，通过匹配负载和已实时测量的等功率内噪声源相干信号标定幅度和相位误差；

通过本振移相网络中的高精度移相器和场景辐射计接收机中的高精度移相器进行移相，补偿各个场景辐射计接收机之间的相位差。

8. 如权利要求 7 所述的测量方法，其特征在于，还包括步骤：通过本振移相网络中的高精度移相器和场景辐射计接收机中的高精度移相器进行移相，构造不同相位差，得到多组冗余相位定标方程，以提高定标精度。