[发明专利]一种可拦截杂质的双向内置滤膜微流控芯片

说明书

本发明公开一种可拦截杂质的双向内置滤膜微流控芯片。所述的微流控芯片由基片和滤膜键合构成，基片内开有两端开放的“凵”形腔室，该腔室包括第一样品出入口、样品检测单元、第二样品出入口，所述第一样品出入口与样品检测单元以及第二样品出入口依次相连通。本发明的微流控芯片样品进口出口结构简单，样品进出口均可以拦截样品中大于20μm的杂质并让其余物质通过，降低检测过程中假阳性的概率，样品入口和出口可互换使用，不会影响检测结果。

技术领域

本发明属于微流控芯片,具体涉及一种样品入口可拦截20μm以上杂质的样品入口和出口可互换使用微流控芯片。

背景技术

市场上的微流控芯片包括样品入口、样品检测单元和样品出口，这种微流控芯片的样品入口不能拦截待检样品中的杂质，由于待检样品中会含有杂质，需设置专门的拦截单元来拦截待检样品中的杂质，因而这种微流控芯片结构复杂。

发明内容

本发明的目的是提供一种结构简单，可拦截待检样品中直径大于20μm杂质的样品入口和出口可互换使用微流控芯片。

为了实现上述目的，本发明的技术方案是：

一种微流控芯片，由基片和滤膜键合构成，基片内开有两端开放的“凵”形腔室，该腔室包括第一样品出入口、样品检测单元、第二样品出入口，所述第一样品出入口与样品检测单元以及第二样品出入口依次相连通；所述样品检测单元为现有成熟检测模块。

所述第一样品出入口位于基片“凵”形腔室的其中一臂，具体包括第一样品过滤室，第一滤膜，第一滤液收集室；第一样品过滤室入口位于第一样品过滤室顶部，第一样品过滤室的底部与第一滤液收集室的入口连通，第一样品过滤室的底部与第一滤液收集室的入口尺寸一致，且两者间通过第一滤膜隔开；第一滤液收集室的出口设置在基片“凵”形腔室臂部的侧壁(即滤液收集室的腔壁上)，且第一滤液收集室的出口与样品检测单元的一端相连通；

上述微流控芯片的样品过滤室为长方体，底面为正方形；2000μm≤底面边长≤4000μm，50μm≤长方体腔室高度≤80μm。

上述微流控芯片的滤液收集室为长方体，底面为正方形；2000μm≤底面边长≤4000μm，50μm≤长方体腔室高度≤80μm。

上述微流控芯片中将样品过滤室与滤液收集室隔开的滤膜，其孔径均为20μm且与样品入口腔室无缝粘合。

上述微流控芯片的滤液收集室侧壁滤液收集室出口的宽度为594-606μm，高度为30-50μm。

所述第二样品出入口位于基片“凵”形腔室的另一臂，具体包括第二样品过滤室，第二滤膜，第二滤液收集室；第二样品过滤室入口位于第二样品过滤室顶部，第二样品过滤室的底部与第二滤液收集室的入口连通，第二样品过滤室的底部与第二滤液收集室的入口尺寸一致，且两者间通过第二滤膜隔开；第二滤液收集室的出口设置在基片“凵”形腔室臂部的侧壁(即滤液收集室的腔壁上)，且第二滤液收集室的出口与样品检测单元的另一端相连通；

第一样品过滤室、第一滤液收集室与对应的第二样品过滤室、第二滤液收集室尺寸大小相同。

本发明的好处是：1)、样品入口的样品过滤室底部设置孔径为20μm的滤膜，可拦截待检测样品中大于20μm的杂质，结构简单，成本极低；2)、滤液收集室位于样品过滤室底部，样品中大于20μm的杂质被拦截在样品过滤室中而滤液则流入滤液收集室，因此这种微流控芯片样品入口可拦截带检测样品中大于20μm的杂质并让其余物质流进滤液收集室出口；3)样品出口结构与样品入口相同，可颠倒使用，操作方便。

附图说明

图1是本发明的微流控芯片的一种实施例的结构示意图；

图2是本发明的微流控芯片的俯视图；

图3是本发明的微流控芯片的立体示意图；