[发明专利]一种研究高压下样品相变的装置在审

专利信息
申请号: 201811431466.1 申请日: 2018-11-17
公开(公告)号: CN109406562A 公开(公告)日: 2019-03-01
发明(设计)人: 张向平;方晓华;赵永建 申请(专利权)人: 金华职业技术学院
主分类号: G01N25/04 分类号: G01N25/04;G01N25/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 321000 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 光路 透镜 成像激光 加热激光 小孔光阑 激光器 反射镜 分束器 入射 融化 滤波器 光圈 色差 光学图像分析 样品表面反射 消色差透镜 蓝宝石 材料研究 高压条件 激光加热 加热效率 滤光片组 散斑干涉 收集效率 棱镜 反射光 透镜组 斩波器 探测器 顶砧 减小 物镜 摄像机 图案 研究 优化 分析
【说明书】:

发明涉及材料研究领域,一种研究高压下样品相变的装置,包括激光器I、分束器I、反射镜I、反射镜II、蓝宝石顶砧、样品、棱镜、透镜I、激光器II、消相差透镜组、光圈、物镜、分束器II、滤波器、摄像机、斩波器、小孔光阑、透镜II、滤光片组和探测器,通过激光加热及光学图像分析的方法来确定样品在高压条件下的融化温度,加热激光及成像激光分别以不同的光路入射到样品,并采用消色差透镜组结合小孔光阑的方法来减小光路中的色差,另外,通过对样品表面反射的散斑干涉图案进行定量的分析,能够更精确地来确定样品的融化温度,加热激光及成像激光分别以不同的光路入射到样品,使得样品的加热效率、反射光的收集效率均能得到更好的优化。

技术领域

本发明涉及材料研究领域,尤其是一种通过激光加热及光学图像分析的方法来确定样品在高压条件下的融化温度的一种研究高压下样品相变的装置。

背景技术

目前研究高压下样品相变的领域中,现有技术缺陷一:现有技术中研究样品的融化过程通常有两种方法,一种方法是直接观测样品在加热前与冷却后的光学图像的变化;一种方法是在对样品加热的同时采用激光入射到加热区域,并观测样品对激光的反射而形成的散斑干涉图像的变化,这两种方法均缺少定量的表征来得到样品的实际融化温度,该方法中,现有技术通常将加热激光与成像激光以相同的光路入射到样品,因此光路中的某些参数优化会受到限制,影响装置的加热效率、光学分辨率等;现有技术缺陷二:在对样品的温度测量中,需要收集从样品表面反射的光,因此需要使得光路中的色差最小化,现有技术中采用的标准的消色差透镜效果不佳,并且在1000K以上的温度测量中会引入明显的误差,该误差取决于样品上被加热区域的尺寸,所述一种研究高压下样品相变的装置能够解决问题。

发明内容

为了解决上述问题,本发明装置中的加热激光及成像激光分别以不同的光路入射到样品,并采用消色差透镜组结合小孔光阑的方法来减小光路中的色差,另外,通过对样品表面反射的散斑干涉图案进行定量的分析来确定样品的融化温度。

本发明所采用的技术方案是:

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