[发明专利]一种存储器测试治具、使用方法及排线跳帽

说明书

本发明公开了一种存储器测试治具、使用方法及排线跳帽，其中，所述存储器测试治具，包括多个负载卡和多个排线跳帽，所述排线跳帽通过插接的方式将所述负载卡两两连接在一起，所述排线跳帽之间通过插接的方式两两互联，使所述多个负载卡上对应的信号连接在一起。本发明实施例将负载卡的连接方式由连接排线连接，变更为排线跳帽连接，提高了操作的简便性，简化了拆卸安装操作，延长了治具使用寿命，也提高了测试准确度。

技术领域

本发明涉及测试治具领域，尤指一种存储器测试治具、使用方法及排线跳帽。

背景技术

服务器板卡在开发过程中，需要进行详细而严格的测试验证。存储器(Memory)部分作为板卡的重要组成部分，是测试时需要重点关注的部分。Intel官方也对其测试内容做出了详细而严格的规定。

为了完成这些精密的测试，Intel同时还推出了官方测试治具。使用这些测试治具，可以大大提高测试的准确性，同时也让很多本来很难测试到的信号，可以在治具上很方便的量测到。

由于服务器需求多种多样，对应的服务器板卡在设计时，也不尽相同。通常情况下，Memory部分的设计会是4根内存设计，或者6根内存设计。与之对应的，主板上就会有4根内存条卡槽，或者6根内存条卡槽。

Intel官方发布的Memory测试治具，包括6个负载卡，连接排线，及其他配件。其中负载卡是模拟内存条，直接插在内存条卡槽上。

这样很多信号可以直接在负载卡上的对应量测点量测到。如果板卡设计是4根内存条卡槽设计时，只需要使用4个负载卡即可。连接排线是安装在负载卡上的，其作用是将多个负载卡的相关信号连接在一起。

由于官方发布的治具是按6个负载卡设计的，这导致在测试时，需要根据板卡设计的具体情况，进行4负载卡和6负载卡之间的切换，反复拆卸安装负载卡和连接排线。由于排线起到隔离负载卡间距，连接负载卡信号的作用，因此，两者间必须安装牢固，接触充分。这样就造成在拆装排线和负载卡时比较麻烦。而且，由于经常拆卸安装负载卡与排线，排线接口处比较容松动，可能影响测试准确度。同时排线也容易出现耗损断裂的情况。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种存储器测试治具、使用方法及排线跳帽。

为了达到本发明目的，本发明提供了一种存储器测试治具，包括多个负载卡，还包括多个排线跳帽，所述排线跳帽通过插接的方式将所述负载卡两两连接在一起，所述排线跳帽之间通过插接的方式两两互联，使所述多个负载卡上对应的信号连接在一起。

可选地，所述排线跳帽，包括多个并排的跳帽单元，每个跳帽单元包括两个通过信号连接线连接的插头单元。

可选地，所述插头单元包括相连的排线跳帽延长针和排线跳帽插头。

可选地，所述负载卡为六个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡、第四负载卡、第五负载卡和第六负载卡，所述排线跳帽为五个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽、第三排线跳帽、第四排线跳帽和第五排线跳帽；其中，所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上，所述第五排线跳帽插接在所述第五负载卡和第六负载卡上，所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上，所述第四排线跳帽插接在所述第三排线跳帽和第五排线跳帽上。

可选地，所述负载卡为四个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡和第四负载卡，所述排线跳帽为三个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽和第三排线跳帽；其中，所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上，所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上。

本发明还提供一种存储器测试治具的使用方法，包括：

在每两个相邻的负载卡上插接一个排线跳帽；