[发明专利]钻孔岩石裂隙发育程度及区域岩石裂隙发育规律的方法有效
申请号: | 201811433767.8 | 申请日: | 2018-11-28 |
公开(公告)号: | CN109598049B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 耿浩;刘瑞雪 | 申请(专利权)人: | 中化地质矿山总局地质研究院 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06T11/20 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹;吴欢燕 |
地址: | 100101 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 钻孔 岩石 裂隙 发育 程度 区域 规律 方法 | ||
本发明涉及地质勘探技术领域,公开了一种钻孔岩石裂隙发育程度及区域岩石裂隙发育规律的方法,包括收集钻孔编录资料;统计所有钻孔各个回次的RQD值;根据岩石质量分类表进行岩石质量等级划分并判定各个回次的岩石质量等级;根据整个钻孔的岩石裂隙发育程度方程来求得每个完整钻孔的岩石裂隙发育程度;将所有钻孔岩石裂隙发育程度计算的结果进行统计,并利用内插法由绘图软件生成等值线图;根据钻孔岩石裂隙程度分类表进行每个钻孔岩石裂隙发育程度的分析;基于绘制出的等值线图和对每个钻孔岩石裂隙发育程度的分析,来进行区域岩石裂隙发育规律的分析。该方法具有能准确分析出整个钻孔的岩石裂隙发育程度以及区域岩石裂隙发育规律的优点。
技术领域
本发明涉及地质勘探技术领域,特别是涉及一种钻孔岩石裂隙发育程度及区域岩石裂隙发育规律的方法。
背景技术
RQD是一种标示岩石质量好坏的指标,能间接地反映每一钻进回次中岩石裂隙的发育程度:裂隙发育越好,岩石质量等级越低、RQD值就越小。但RQD值只能反映每一钻进回次中的裂隙发育程度,而每个钻孔的钻进回次数量往往很多,它体现不出整个钻孔的裂隙发育程度以及区域的裂隙发育规律,并且目前尚未有利用回次RQD值来计算整个钻孔的岩石裂隙发育程度的方法以及利用RQD值来分析区域岩石裂隙发育规律的方法。
发明内容
(一)要解决的技术问题
本发明的目的是提供一种钻孔岩石裂隙发育程度及区域岩石裂隙发育规律的方法,以解决现有技术中的方法无法基于回次RQD值来准确地计算整个钻孔的裂隙发育程度以及区域的裂隙发育规律的技术问题。
(二)技术方案
为了解决上述技术问题,本发明提供一种钻孔岩石裂隙发育程度及区域岩石裂隙发育规律的方法,包括:步骤S1,收集钻孔编录资料;步骤S2,统计所有钻孔各个回次的RQD值;步骤S3,根据岩石质量分类表进行岩石质量等级划分,初步判定各个回次的岩石质量等级;步骤S4,根据整个钻孔的岩石裂隙发育程度方程来求得每个完整钻孔的岩石裂隙发育程度;步骤S5,将所有钻孔岩石裂隙发育程度计算的结果进行统计,将整个钻孔的岩石裂隙发育程度值按各自钻孔的实际坐标位置投到绘图软件中,利用内插法由绘图软件生成等值线图;步骤S6,根据钻孔岩石裂隙程度分类表进行每个钻孔岩石裂隙发育程度的分析;步骤S7,基于绘制出的等值线图和对每个钻孔岩石裂隙发育程度的分析,来进行区域岩石裂隙发育规律的分析。
其中,所述步骤S4包括:整个钻孔的所述岩石裂隙发育程度方程为:
其中,Pf为整个钻孔的岩石裂隙发育程度(%);RQDi为钻孔基岩部分中第i个回次的RQD值(%);Li为钻孔基岩部分中第i个回次的进尺长度;Ls为整个钻孔基岩部分的进尺总长度;n为整个钻孔的基岩部分回次总数量。
其中,在所述步骤S1中,所述收集钻孔编录资料包括:钻探原始班报表、地质钻探钻孔编录表、水文地质钻孔编录表、钻孔质量验收表以及钻孔分布资料。
其中,所述步骤S2还包括:获取每个钻孔基岩部分中的每个回次钻进所取岩芯中的所有长度大于10cm的岩芯段累积的长度之和与该回次整体进尺长度的比值,所述比值以百分比表示。
其中,在所述步骤S4中,钻孔基岩部分中各个回次的RQD值是反映各回次岩石完整程度的,RQD值越高,岩石质量越好,Pf的值越低。
其中,在所述步骤S4中,整个钻孔基岩部分中岩石质量等级相对较低的回次的进尺长度(Li)和整个钻孔基岩部分的进尺总长度(Ls)的比值与pf呈正比例关系,比值越大,pf的值越高。
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