[发明专利]一种基于星光测量的姿态测量仪精度校准装置及方法有效
申请号: | 201811434642.7 | 申请日: | 2018-11-28 |
公开(公告)号: | CN111238529B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
发明(设计)人: | 李永刚;周玉堂;熊琨;王春喜;赵功伟;商秋芳;张忠武 | 申请(专利权)人: | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 任超 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 星光 测量 姿态 测量仪 精度 校准 装置 方法 | ||
1.一种基于星光测量的姿态测量仪精度校准装置,其特征在于:包括GPS接收机、双头星敏测姿装置、自调平伺服跟踪台和刚性基座(15),被校准设备为姿态测量仪(1);
所述的GPS接收机,包括天线吸盘座(16)、GPS天线(17)和GPS接收处理卡,GPS天线(17)通过螺纹安装在天线吸盘座(16)顶部,GPS接收处理卡嵌入在双头星敏测姿装置的处理计算机里;
所述的双头星敏测姿装置,包括星敏感器A(3)、星敏感器B(4)、星敏基准六面体(5)、星敏基座(6),其中,星敏感器A(3)、星敏感器B(4)和星敏基准六面体(5)通过螺钉紧固在星敏基座(6)上;双头星敏测姿装置输出的姿态即为星敏基准六面体(5)的姿态;
所述的自调平伺服跟踪台,包括方位伺服跟踪轴(7)、调平台面六面体(8)、调平台俯仰框(9)、调平台横滚框(10)、横滚轴码盘(11)、调平台基座(12)、调平台基座六面体(13)和俯仰轴码盘(14);
所述的方位伺服跟踪轴(7),包括方位电机和方位码盘,控制系统控制方位电机带动方位伺服跟踪轴(7)顶部的双头星敏测姿装置相对调平台俯仰框(9)旋转,方位码盘实时测出旋转角度;
所述的调平台俯仰框(9)侧面安装有调平台面六面体(8),保证调平台面六面体(8)对应面的法线与俯仰轴平行,通过螺钉紧固;
所述的调平台俯仰框(9)通过俯仰轴系与调平台横滚框(10)连接;调平台俯仰框(9)远离俯仰轴系的一端安装有电机和丝杠,控制系统控制电机旋转,电机带动丝杠起落,使调平台俯仰框(9)沿俯仰轴系旋转运动;俯仰轴系的一端安装有俯仰轴码盘(14),用来实时测量俯仰轴旋转角度;
所述的调平台横滚框(10)通过横滚轴系与调平台基座(12)连接;调平台横滚框(10)远离横滚轴系的一端安装有电机和丝杠,控制系统控制电机旋转,电机带动丝杠起落,使调平台横滚框(10)沿横滚轴系旋转运动;横滚轴系的一端安装有横滚轴码盘(11),用来实时测量横滚轴旋转角度;所述的自调平伺服跟踪台俯仰和横滚轴系正交,方位轴系与俯仰轴系正交;
所述的调平台基座(12)的侧面安装有调平台基座六面体(13),保证调平台基座六面体(13)对应面的法线与横滚轴平行,通过螺钉紧固;
所述的自调平伺服跟踪台装配完成后,调整其放置基座,使调平台横滚框(10)的底面处于水平状态,调整俯仰和横滚轴系,使调平台俯仰框(9)顶部仪器安装面处于水平状态,标定调平台面六面体(8)和调平台基座六面体(13)的姿态,使其姿态一致,记录下该状态下横滚轴码盘(11)和俯仰轴码盘(14)的角度值,记为“零位”。
2.如权利要求1所述的一种基于星光测量的姿态测量仪精度校准装置,其特征在于:所述的双头星敏测姿装置,固定在自调平伺服跟踪台的方位伺服跟踪轴(7)的顶部,自调平伺服跟踪台的调平台基座(12)底部固定在刚性基座(15)上,GPS接收机的GPS天线(17)通过天线吸盘座(16)吸附在整套装置的旁边,距离双头星敏测姿装置不超过1m。
3.如权利要求1所述的一种基于星光测量的姿态测量仪精度校准装置,其特征在于:所述的双头星敏测姿装置安装到自调平伺服跟踪台后,标定星敏基准六面体(5)和调平台面六面体(8)的安装姿态,使其水平双向一致;转动伺服跟踪方位轴轴系,当星敏基准六面体(5)和调平台面六面体(8)的方位一致时,记录下方位码盘的角度值,记作方位“零位”值;当方位轴、俯仰轴和横滚轴码盘角度处于“零位”角度时,保证星敏基准六面体(5)、调平台面六面体(8)和调平台基座六面体(13)三者的三维姿态一致。
4.如权利要求1所述的一种基于星光测量的姿态测量仪精度校准装置,其特征在于:所述的姿态测量仪(1)固定在刚性基座(15)上,校准测试过程中保证其相对刚性基座(15)的姿态不变;姿态测量仪(1)输出的姿态角为姿态基准六面体(2)的姿态。
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