[发明专利]定位系统的定位精度的检测设备、方法及装置有效

专利信息
申请号: 201811436204.4 申请日: 2018-11-28
公开(公告)号: CN109633529B 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 杨冬茜;陈雷;高朝 申请(专利权)人: 珠海优特电力科技股份有限公司
主分类号: G01S5/02 分类号: G01S5/02
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 赵囡囡;董文倩
地址: 519000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 定位 系统 精度 检测 设备 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种定位系统的定位精度的检测设备,其特征在于,包括:标签支架,定位标签和分析主机,其中,

所述定位标签固定在所述标签支架上;

所述定位标签用于与待检测的定位系统进行通信,其中,所述定位标签用于通过与所述定位系统进行通信使所述定位系统对所述定位标签进行定位得到第一定位信息;

所述分析主机用于根据检测到的所述标签支架的形状信息和/或所述定位标签的位置信息对所述定位标签进行定位得到第二定位信息,根据所述第二定位信息和接收到的所述定位系统发送的所述第一定位信息检测所述定位系统的定位精度;

其中,所述标签支架上设置有多个弯曲档位,每个所述弯曲档位对应一个目标弯曲角度;所述第一定位信息包括:所述定位系统传输的多个状态所对应的多个所述第一定位信息,所述多个状态为所述标签支架被调整至的多个状态,所述多个状态包括多个所述目标弯曲角度;所述第二定位信息包括:根据在所述多个状态中的每个状态下的所述标签支架的形状信息和/或所述定位标签的位置信息对所述定位标签进行定位得到所述多个状态所对应的多个第二定位信息。

2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述定位标签包括:多个标签,其中,

所述多个标签固定在所述标签支架上的多个位置,所述多个标签中每个标签用于通过与所述定位系统进行通信使所述定位系统对所述每个标签进行定位得到第一信息,所述第一定位信息包括具有对应关系的所述多个标签和多个所述第一信息;

所述分析主机用于根据检测到的所述标签支架的形状信息和/或所述定位标签的位置信息对所述多个标签中的每个标签进行定位得到所述每个标签对应的第二信息,所述第二定位信息包括具有对应关系的所述多个标签和多个所述第二信息。

3.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述标签支架上设置有用于标识所述定位标签所在位置的刻度,所述分析主机用于接收通过读取所述刻度和/或所述弯曲角度输入的输入信息,并根据所述输入信息确定所述第二定位信息。

4.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述标签支架上设置有用于检测所述定位标签所在位置的距离传感器,所述标签支架上设置有用于检测所述定位标签所在位置弯曲的角度的角度传感器,所述分析主机用于接收所述距离传感器和/或所述角度传感器传输的传输信息,并根据所述传输信息确定所述第二定位信息。

5.一种定位系统的定位精度的检测方法,其特征在于,包括:

获取待检测的定位系统传输的第一定位信息,其中,所述第一定位信息是所述定位系统通过与定位标签进行通信对所述定位标签进行定位得到的;

检测用于固定所述定位标签的标签支架的形状信息和/或所述定位标签的位置信息,并根据所述标签支架的形状信息和/或所述定位标签的位置信息对所述定位标签进行定位得到第二定位信息;

根据所述第二定位信息和所述第一定位信息检测所述定位系统的定位精度;

其中,所述标签支架上设置有多个弯曲档位,每个所述弯曲档位对应一个目标弯曲角度;所述第一定位信息包括:所述定位系统传输的多个状态所对应的多个所述第一定位信息,所述多个状态为所述标签支架被调整至的多个状态,所述多个状态包括多个所述目标弯曲角度;所述第二定位信息包括:根据在所述多个状态中的每个状态下的所述标签支架的形状信息和/或所述定位标签的位置信息对所述定位标签进行定位得到所述多个状态所对应的多个第二定位信息。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述定位标签包括:多个标签,所述第一定位信息包括具有对应关系的所述多个标签和多个第一信息,所述第二定位信息包括具有对应关系的所述多个标签和多个第二信息,其中,根据所述第二定位信息和所述第一定位信息检测所述定位系统的定位精度包括:

根据具有对应关系的所述多个标签和多个第一信息以及具有对应关系的所述多个标签和多个第二信息,确定所述多个标签中每个标签所对应的偏差距离;

获取多个所述偏差距离的偏差平均值,将所述偏差平均值确定为所述定位系统的定位精度。

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