[发明专利]一种探针接触精度检测方法

说明书

本发明涉及一种探针接触精度检测方法，通过视觉分析、软件计算，检测探针在被测PCB上留下的扎痕凹点，计算扎痕凹点与PCB测试点理论位置的偏移距离，自动判别探针与测试点的接触精度是否满足要求，并输出检测报告。本发明可实现测试夹具探针与被测PCB上测试点接触精度的自动判别/检测，提高了检测效率，避免了人为误判、漏判的可能；并且判别标准统一，检测结果可输出存档，方便追溯。另外检测过程不使用样品PCB，PCB制程公差不影响探针接触精度的判别。

技术领域

本发明涉及一种检测方法，更具体地说，涉及一种探针接触精度检测方法。

背景技术

探针是一种在测试夹具中广泛应用的配件。其主要作用是安装在夹具上，用来与被测PCB上的测试点接触，再通过探针套尾部的连线与外接电路、仪器、仪表连通。从而达到通电(检测电压、电流)、传输信号的目的。所以探针与被测PCB上的测试点接触是否可靠至关重要。

现在检测探针与被测PCB上测试点接触精度的方法，大多使用放大镜/显微镜观测探针在PCB测试点上留下的扎痕。使用被测样品PCB，在测试点上面覆盖一层蓝膜，将PCB放入测试夹具内压合，这样探针就会在蓝膜上留下扎痕。再通过放大镜/显微镜观测扎痕与测试点的位置关系(理想状态是扎痕在测试点的中心位置)，人工判别扎痕是否在可接受的范围。上述方法，借助放大镜/显微镜观测，靠人工判别，费时费力，且判别标准因人而异无法量化，判别结果无法输出/保存，并且PCB制程中测试点位置相对于理论位置也会有公差，可能每片PCB测试点位置都有差异。所以用样品PCB测试点为基准来判别探针扎痕可能会因累积误差造成误判。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术中的缺陷，提供一种探针接触精度检测方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种探针接触精度检测方法，通过视觉分析、软件计算，检测探针在被测PCB上留下的扎痕凹点，计算扎痕凹点与PCB测试点理论位置的偏移距离，自动判别探针与测试点的接触精度是否满足要求，并输出检测报告。

实施本发明的一种探针接触精度检测方法，具有以下有益效果：本发明可实现测试夹具探针与被测PCB上测试点接触精度的自动判别/检测，提高了检测效率，避免了人为误判、漏判的可能；并且判别标准统一，检测结果可输出存档，方便追溯。另外检测过程不使用样品PCB，PCB制程公差不影响探针接触精度的判别。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：

图1是本发明的探针接触精度检测方法流程示意图

图2是本发明相机拍摄探针扎痕示意图

图3是本发明图像处理软件分析探针扎痕凹点重心示意图

图4是本发明扎痕局部放大图

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

如图1所示，所述探针接触精度检测方法步骤为

S1：制作一块假板，所述假板与所需测试PCB板形状相同，所述假板上设有一层蓝膜；

S2：将假板放入夹具内进行压合，探针在蓝膜上形成扎痕02；

S3：利用相机拍照，再配合2.5D图像处理软件，逐一分析每个探针扎痕凹点01，并输出坐标位置；

S4：对比输出的扎痕凹点01坐标与对应PCB测试点的理论坐标，计算两者之间的距离、偏移角度/方向；

S5：设定可接受的偏移距离，大于设定值的探针扎痕02判定为不合格；