[发明专利]自动制孔系统的孔位校正方法有效

专利信息
申请号: 201811442360.1 申请日: 2018-11-29
公开(公告)号: CN109318050B 公开(公告)日: 2019-11-08
发明(设计)人: 陈恳;张继文;徐静;吴丹;杨东超;胡奎;郭九明 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: B23Q15/14 分类号: B23Q15/14
代理公司: 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 代理人: 张婷婷;张向琨
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 孔位偏差 制孔 基准孔 均方误差 理论位置 自动制孔系统 实际位置 响应函数 孔位 校正 若干个孔 三维模型 加工
【权利要求书】:

1.一种自动制孔系统的孔位校正方法,其特征在于,包括步骤:

S1,提供待制孔工件,并采用计算机辅助设计软件建立待制孔工件的三维模型;

S2,在三维模型上构造出多个孔,其中所述多个孔包括N个基准孔和M个待制孔,并标出基准孔的理论位置xi=(ui,vi,wi)T,i=1,2,...N,待制孔的理论位置xa*=(ua,va,wa)T,a=1,2,...M;

S3,根据基准孔的理论位置xi,在待制孔工件上加工出基准孔,并采用测量仪测出基准孔的实际位置

S4,基于步骤S2和S3,计算出基准孔的理论位置xi与实际位置之间的孔位偏差为(Δui,Δvi,Δwi)T,即:

S5,基于Kriging模型,由N个基准孔的理论位置x1,x2,...,xN以及对应的孔位偏差的Δu分量Δu1,Δu2,...,ΔuN,获得待制孔工件上的任意孔的理论位置x与其孔位偏差的Δu分量之间的响应函数Δu(x)以及Δu(x)在x处的均方误差函数su2(x),其中x∈[xi,xa*];

基于Kriging模型,由N个基准孔的理论位置x1,x2,...,xN以及对应的孔位偏差的Δv分量Δv1,Δv2,...,ΔvN,获得待制孔工件上的任意孔的理论位置x与其孔位偏差的Δv分量之间的响应函数Δv(x)以及Δv(x)在x处的均方误差函数sv2(x),其中x∈[xi,xa*];

基于Kriging模型,由N个基准孔的理论位置x1,x2,...,xN以及对应的孔位偏差的Δw分量Δw1,Δw2,...,ΔwN,获得待制孔工件上的任意孔的理论位置x与其孔位偏差的Δw分量之间的响应函数Δw(x)以及Δw(x)在x处的均方误差函数sw2(x),其中x∈[xi,xa*];

S6,由待制孔的理论位置xa*=(ua,va,wa)T和步骤S5中获得的三个响应函数Δu(x)、Δv(x)、Δw(x),分别计算出待制孔的孔位偏差的Δu分量Δu(xa*)、Δv分量Δv(xa*)、Δw分量Δw(xa*);

S7,由待制孔的理论位置xa*=(ua,va,wa)T和步骤S5中获得的三个均方误差函数su2(x)、sv2(x)、sw2(x),分别计算出Δu(xa*)在xa*处的均方误差su2(xa*)、Δv(xa*)在xa*处的均方误差sv2(xa*)、Δw(xa*)在xa*处的均方误差sw2(xa*);

S8,求出待制孔的实际位置

待制孔的孔位精度要求为δ2,在步骤S8中,包括步骤:

S81,比较su2(xa*)+sv2(xa*)+sw2(xa*)与δ2的大小;

S82,su2(xa*)+sv2(xa*)+sw2(xa*)<δ2时,则直接输出待制孔的实际位置

S83,su2(xa*)+sv2(xa*)+sw2(xa*)>δ2时,则在三维模型上待制孔xa*的周围增添新的基准孔并重复步骤S3-S81,直至获得的su2(xa*)+sv2(xa*)+sw2(xa*)<δ2为止,再输出待制孔的实际位置

2.根据权利要求1所述的自动制孔系统的孔位校正方法,其特征在于,在步骤S5中,包括步骤:

S51,给出Kriging模型的基本函数表达式:

y(x)=fT(x)β+z(x)

其中,z(x)为随机变量且E[z(x)]=0、f(x)为基函数、β为基函数的系数;

S52,令f(x)=1,则β为一维待定系数;

S53,基于步骤S51-S52,则待制孔工件上的任意孔的理论位置x与其孔位偏差的Δu分量之间的响应函数的基本表达式为:Δu(x)=βu+zu(x);

其中,对于随机变量zu(x),则任意两个基准孔满足:

cov[zu(xi),zu(xj)]=σu2R(θu,pu,xi,xj),j=1,2,...N

由N个基准孔的理论位置x1,x2,...,xN以及对应的孔位偏差的Δu分量Δu1,Δu2,...,ΔuN并通过最大似然估计法,获得基函数系数βu的估计值为βu、随机变量zu(xi)的方差的估计值为σu2、任意两个随机变量zu(xi)、zu(xj)之间的相关强度系数的估计值为θu=(θu1u2u3)T,θu1、θu2、θu3分别表示任意两个随机变量zu(xi)、zu(xj)在Δu分量、Δv分量、Δw分量上的相关强度系数,分别为ui、vi、wi,分别为uj、vj、wj,pu表示任意两个随机变量zu(xi)、zu(xj)之间的相关形式,且

由此,待制孔工件上的任意孔的理论位置x与其孔位偏差的Δu分量之间的响应函数Δu(x)的估计结果以及Δu(x)在x处的均方误差函数su2(x)的估计结果为:

Δu(x)=βu+ruTRu-1(yu-1·βu)

其中,Ru是N个基准孔对应的随机变量zu(x1),zu(x2),...,zu(xN)两两之间的相关系数构成的相关矩阵,且Ru的第i行第j列元素为ru是随机变量zu(x)与N个基准孔对应的随机变量zu(x1),zu(x2),...,zu(xN)之间的相关系数构成的N维向量,且ru中的第i个元素为yu是由N个基准孔的孔位偏差的Δu分量Δu1,Δu2,...,ΔuN构成的N维向量;

S54,基于步骤S51-S52,则待制孔工件上的任意孔的理论位置x与其孔位偏差的Δv分量之间的响应函数的基本表达式为:Δv(x)=βv+zv(x);

其中,对于随机变量zv(x),则任意两个基准孔满足:

cov[zv(xi),zv(xj)]=σv2R(θv,pv,xi,xj),j=1,2,...N

由N个基准孔的理论位置x1,x2,...,xN以及对应的孔位偏差的Δv分量Δv1,Δv2,...,ΔvN,并通过最大似然估计法,获得基函数系数βv的估计值为βv、zv(xi)的方差的估计值为σu2、任意两个随机变量zv(xi)、zv(xj)之间的相关强度系数的估计值为θv=(θv1v2v3)T,θv1、θv2、θv3分别表示任意两个随机变量zv(xi)、zv(xj)在Δu分量、Δv分量、Δw分量上的相关强度系数,分别为ui、vi、wi,分别为uj、vj、wj,pv表示任意两个随机变量zv(xi)、zv(xj)之间的相关形式,且

由此,待制孔工件上的任意孔的理论位置x与其孔位偏差的Δv分量之间的响应函数Δv(x)的估计结果以及Δv(x)在x处的均方误差函数sv2(x)的估计结果为:

Δv(x)=βv+rvTRv-1(yv-1·βv)

其中,Rv是N个基准孔对应的随机变量zv(x1),zv(x2),...,zv(xN)两两之间的相关系数构成的相关矩阵,且Rv的第i行第j列元素为rv是随机变量zv(x)与N个基准孔对应的随机变量zv(x1),zv(x2),...,zv(xN)之间的相关系数构成的N维向量,且rv中的第i个元素为yv是由N个基准孔的孔位偏差的Δv分量Δv1,Δv2,...,ΔvN构成的N维向量;

S55,基于步骤S51-S52,则待制孔工件上的任意孔的理论位置x与其孔位偏差的Δw分量之间的响应函数的基本表达式为:Δw(x)=βw+zw(x);

其中,对于随机变量zw(x),则任意两个基准孔满足:

cov[zw(xi),zw(xj)]=σw2R(θw,pw,xi,xj),j=1,2,...N

由N个基准孔的理论位置x1,x2,...,xN以及对应的孔位偏差的Δw分量Δw1,Δw2,...,ΔwN并通过最大似然估计法,获得基函数系数βw的估计值为βw、随机变量zw(xi)的方差的估计值为σu2、任意两个随机变量zw(xi)、zw(xj)之间的相关强度系数的估计值为θw=(θw1w2w3)T,θw1、θw2、θw3分别表示任意两个随机变量zw(xi)、zw(xj)在Δu分量、Δv分量、Δw分量上的相关强度系数,分别为ui、vi、wi,分别为uj、vj、wj,pw表示任意两个随机变量zw(xi)、zw(xj)之间的相关形式,且

由此,获得待制孔工件上的任意孔的理论位置x与其孔位偏差的Δw分量之间的响应函数Δw(x)的估计结果以及Δw(x)在x处的均方误差函数sw2(x)的估计结果为:

Δw(x)=βw+rwTRw-1(yw-1·βw)

其中,Rw是N个基准孔对应的随机变量zw(x1),zw(x2),...,zw(xN)两两之间的相关系数构成的相关矩阵,且Rw的第i行第j列元素为rw是随机变量zw(x)与N个基准孔对应的随机变量zw(x1),zw(x2),...,zw(xN)之间的相关系数构成的N维向量,且rw中的第i个元素为yw是由N个基准孔的孔位偏差的Δw分量Δw1,Δw2,...,ΔwN构成的N维向量。

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