[发明专利]用于确定ECC存储器的刷新频率的方法和装置在审
| 申请号： | 201811444479.2 | 申请日： | 2018-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN109656746A | 公开（公告）日： | 2019-04-19 |
| 发明（设计）人： | 张战刚;雷志锋;彭超;何玉娟;黄云;恩云飞 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 冯右明 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储器 刷新频率 函数关系 软错误率 方法和装置 计算机可读存储介质 错误能力 实际工程 系统资源 优化设计 占用 申请 应用 保证 | ||
1.一种用于确定ECC存储器的刷新频率的方法，其特征在于，所述方法包括：
获取ECC存储器的存储区实际软错误率与刷新频率的函数关系；
根据所述函数关系确定所述ECC存储器的刷新频率。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取ECC存储器的存储区实际软错误率与刷新频率的函数关系，包括：
获取通过数学推导得到的ECC存储器的存储区实际软错误率与刷新频率的函数关系。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述函数关系确定所述ECC存储器的刷新频率，包括：
根据所述函数关系、预设的目标软错误率以及系统参数确定所述ECC存储器的刷新频率，所述预设的目标软错误率是预设的期望实现的所述ECC存储器在开启ECC功能时的存储区实际软错误率，所述系统参数包括应用所述ECC存储器的系统的资源消耗和功耗。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，ECC为具有纠一检二功能的汉明码，获得的所述ECC存储器的存储区实际软错误率与刷新频率的函数关系为：
其中，Rsystem为ECC存储器在开启ECC功能时的存储区实际软错误率，fscrub是ECC存储器的刷新频率，Nw是ECC存储器的存储区的字数，Nb指单个字内的位数，Rraw为ECC存储器在关闭ECC功能时的存储区原始软错误率。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，ECC为具有纠一检二功能的汉明码，获得的所述ECC存储器的存储区实际软错误率与刷新频率的函数关系为：
其中，Rsystem为ECC存储器在开启ECC功能时的存储区实际软错误率，fscrub是ECC存储器的刷新频率，Nw是ECC存储器的存储区的字数，Nb指单个字内的位数，Rraw为ECC存储器在关闭ECC功能时的存储区原始软错误率。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述函数关系确定所述ECC存储器的刷新频率，包括：
获取所述预设的目标软错误率；以及
根据所述函数关系和所述预设的目标软错误率确定所述ECC存储器的刷新频率，所述ECC存储器的刷新频率fscrub与所述预设的目标软错误率反相关。
7.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述函数关系确定所述ECC存储器的刷新频率，包括：
获取所述ECC存储器的存储区原始软错误率Rraw，所述存储区原始软错误率Rraw为ECC存储器在关闭ECC功能时的存储区原始软错误率；以及
根据所述函数关系和所述ECC存储器的存储区原始软错误率Rraw确定所述刷新频率，所述刷新频率fscrub与所述ECC存储器的存储区原始软错误率Rraw正相关。
8.根据权利要求权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述函数关系确定所述ECC存储器的刷新频率，包括：
获取所述ECC存储器的存储区的字数Nw以及单个字内的位数Nb；以及
根据所述函数关系和所述ECC存储器的存储区的字数Nw以及单个字内的位数Nb确定所述刷新频率fscrub，所述刷新频率fscrub与所述ECC存储器的存储区的字数Nw以及单个字内的位数Nb正相关。
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