[发明专利]一种主板内存电源电路的噪声滤波方法

说明书

本发明公开了一种主板内存电源电路的噪声滤波方法，所述主板内存电源电路中含有去耦电容，包括如下步骤：（1）测试干扰频谱图；（2）测试全频谱图；（3）找出干扰频率点或段；（4）测试干扰电平的大小；（5）消除干扰。本发明一种主板内存电源电路的噪声滤波方法，能够准确高效地测量、分析出主板电源的干扰来源，并针对性的将干扰有效消除；该方法还可用于其他主板的电源干扰的测量和调试，为以后的主板电源设计和噪声滤波，尤其是内存部分提供电容选型和布局参考价值。

技术领域

本发明涉及去耦电容应用技术领域，特别是涉及一种主板内存电源电路的噪声滤波方法。

背景技术

主板带有供电的DC电源和使用电源的芯片或负载。如果芯片或负载电容比较大，电源要对负载进行充放电的过程，才会完成电平的转换。如果负载电流比较大或者是负载电容较大，这个跳变过程时间就很长。因为主板内存负载电流较大，而且主板处于工作状态下电流跳变较大，越大的电流和跳变，就会产生更大的信号反弹，这个反弹就是一种噪声，会影响系统的正常工作。

去耦电容的作用是去除干扰噪声，去除对负载电路电流变化造成的干扰滤波，避免主板上各个模块和电源之间的耦合干扰。电源中的去耦是当芯片内部进行电平转换或输出电流发生大的变化时，要瞬间从电源上抽取大电流，瞬时的大电流会导致电源上压降升高，从而引起对自身和其他器件的干扰，对受开关噪声影响的器件或线路起到抗干扰的作用。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种主板内存电源电路的噪声滤波方法，能够对主板内存中的噪声进行准确的排查，进而将其滤除。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种主板内存电源电路的噪声滤波方法，所述主板内存电源电路中含有去耦电容，包括如下步骤：

（1）测试干扰频谱图：测试环境中的干扰频谱图，用于对比分析；

（2）测试全频谱图：测试所述主板内存电源电路中所有的去耦电容都存在时的全频谱图；

（3）找出干扰频率点或段：将步骤（2）中测试所得的全频谱图与步骤（1）中测得的干扰频谱图进行对比，确认出干扰频率点或段；

（4）测试干扰电平的大小：针对步骤（3）中得到的干扰频率点或段，先在所有的去耦电容都存在的情况下测出其对应的干扰电平的大小；再在去除所有的去耦电容的情况下测出对应的干扰电平的大小，并将两种情况下的干扰电平的大小进行比较；

（5）消除干扰：通过步骤（4）中两种情况下干扰频率点或段对应的干扰电平的大小的比较，在所述主板内存电源电路中通过调整去耦电容的容值，使步骤（3）中测得的所有的干扰频率点或段全部消失。

在本发明一个较佳实施例中，还包括分析步骤，根据步骤（4）中测试的干扰电平的大小，分析干扰的来源，从而对主板的电源干扰进行测试和调节。

在本发明一个较佳实施例中，所述调整去耦电容的容值的方法为：所述主板内存电源电路中增加去耦电容。

在本发明一个较佳实施例中，所述调整去耦电容的容值的方法为：改变电路中原有去耦电容的容值。。

本发明的有益效果是：本发明一种主板内存电源电路的噪声滤波方法，能够准确高效地测量、分析出主板电源的干扰来源，该方法还可用于其他主板的电源干扰的测量和调试，为以后的主板电源设计和噪声滤波，尤其是内存部分提供电容选型和布局参考价值。

附图说明

图1是本发明实施例1的主板内存电源电路VTT电路的旁路电路示意图；

图2是本发明实施例1的主板内存电源电路VTT电路的去耦电路示意图；

图3是本发明实施例1的主板内存电源电路的内存部分测量PCB位置示意图；