[发明专利]阻变存储器测试方法以及测试装置

权利要求书

1.一种阻变存储器测试方法，包括至少一个测试周期；其中，

每个所述测试周期包括对所述阻变存储器进行循环测试操作和采样操作；

所述循环测试操作包括多个周期，每个周期包括复位操作和置位操作，所述复位操作被配置为对所述阻变存储器施加复位电压以使得所述阻变存储器处于高阻态，所述置位操作被配置为对所述阻变存储器施加置位电压以使得所述阻变存储器处于低阻态；

所述采样操作被配置为读取所述阻变存储器的电阻值；

每个所述测试周期还包括根据本次测试周期中的所述采样操作获取的所述阻变存储器的电阻值，调整下一个测试周期中进行所述置位操作所采用的置位电压或者调整下一个测试周期中进行所述复位操作所采用的复位电压。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其中，所述采样操作包括第一采样操作，

所述第一采样操作包括所述置位操作以及在所述置位操作完成后的第一读操作，所述第一读操作被配置为读取所述阻变存储器处于低阻态时的第一阻值，

所述采样操作获取的所述阻变存储器的电阻值包括所述第一阻值。

3.根据权利要求2所述的测试方法，其中，所述采样操作还包括第二采样操作，

所述第二采样操作包括所述复位操作以及在所述复位操作完成后的第二读操作，所述第二读操作被配置为读取所述阻变存储器处于高阻态时的第二阻值，

所述采样操作获取的所述阻变存储器的电阻值还包括所述第二阻值。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其中，根据本次测试周期中的所述采样操作获取的所述阻变存储器的电阻值，调整下一个测试周期中进行所述置位操作所采用的置位电压或者调整下一个测试周期中进行所述复位操作所采用的复位电压，包括：

判断本次测试周期中所获得的所述第一阻值是否在第一目标阻值区间内，如果判断结果为否，则调整下一个测试周期中进行所述置位操作所采用的置位电压；或者

判断本次测试周期中所获得的所述第一阻值是否在第一目标阻值区间内，如果判断结果为否，则调整下一个测试周期中进行所述复位操作所采用的复位电压。

5.根据权利要求4所述的测试方法，其中，调整下一个测试周期中进行所述置位操作所采用的置位电压包括：

若所述第一阻值高于所述第一目标阻值区间的最大值，则将所述本次测试周期中进行所述置位操作所采用的置位电压增加第一预定电压值，并将增加后的置位电压作为所述下一个测试周期中进行所述置位操作的置位电压；以及

若所述第一阻值低于所述第一目标阻值区间的最小值，则将所述本次测试周期中进行所述置位操作所采用的置位电压减小所述第一预定电压值，并将减小后的置位电压作为所述下一个测试周期中进行所述置位操作的置位电压。

6.根据权利要求4所述的测试方法，其中，调整下一个测试周期中进行所述复位操作所采用的复位电压包括：

若所述第一阻值高于所述第一目标阻值区间的最大值，则将所述本次测试周期中进行所述复位操作所采用的复位电压减小第一预定电压值，并将减小后的复位电压作为所述下一个测试周期中进行所述复位操作的复位电压；以及

若所述第一阻值低于所述第一目标阻值区间的最小值，则将所述本次测试周期中进行所述复位操作所采用的复位电压增加所述第一预定电压值，并将增加后的复位电压作为所述下一个测试周期中进行所述复位操作的复位电压。

7.根据权利要求3所述的测试方法，其中，根据本次测试周期中的所述采样操作获取的所述阻变存储器的电阻值，调整下一个测试周期中进行所述置位操作所采用的置位电压或者调整下一个测试周期中进行所述复位操作所采用的复位电压，包括：

判断本次测试周期中所获得的所述第二阻值是否在第二目标阻值区间内，如果判断结果为否，则调整下一个测试周期中进行所述复位操作所采用的复位电压；或者

判断本次测试周期中所获得的所述第二阻值是否在第二目标阻值区间内，如果判断结果为否，则调整下一个测试周期中进行所述置位操作所采用的置位电压。