[发明专利]一种透镜外径误差非旋转式检测方法在审

专利信息
申请号: 201811455620.9 申请日: 2018-11-30
公开(公告)号: CN109443279A 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 廖贵军;盛继群;徐裕宏;熊晶;柯勇;饶艳芬;兰江;李涛 申请(专利权)人: 松林光电科技(湖北)有限公司
主分类号: G01B21/10 分类号: G01B21/10
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 黄行军;梅辰
地址: 432100 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 透镜 传感器探头 非旋转式 透镜检测 外径误差 比对 检测 测量 合格品 结构完整性 不合格品 测量坐标 外圆边缘 点坐标 固定的 划伤 外圆
【权利要求书】:

1.一种透镜外径误差非旋转式检测方法,其特征在于:包括以下步骤:1)、将待检透镜固定在检测治具上,建立坐标系;

2)、在待检透镜的四周布置至少三个以上的传感器,计算三个不在同一条直线上的传感器在其探头接触到待检透镜的外径边缘后探头的坐标参数A11、A12、A13;

3)、根据三点定圆原理通过A11、A12、A13计算三点确定的圆的直径D1,将D1与待检透镜外径设定值D进行比对,若D1与D差值处于设计误差范围内,认为该次测量下待检透镜外径误差符合设计要求,否则认为该次测量下待检透镜外径误差不符合设计要求;

4)、待第一次测量完成后,通过另外三个不在同一条直线上的传感器对待检透镜进行第二次外径误差测量,按照步骤3)记载的方法对测量结果进行分析,依次进行直至完成n次外径误差测量,若n次外径误差测量中不符合设计要求的测量结果小于m次,则认为该待检透镜为合格品,否则认为该待检透镜为不合格品。

2.如权利要求1所述的一种透镜外径误差非旋转式检测方法,其特征在于:所述的步骤1)中,将待检透镜固定在检测治具上的方法为:将待检透镜沿水平方向放置在检测治具上,即使待检透镜的轴线沿竖直方向布置。

3.如权利要求2所述的一种透镜外径误差非旋转式检测方法,其特征在于:所述的步骤1)中,建立坐标系的方法为:以待检透镜的中心为圆心、以待检透镜的轴线为Z轴、以穿过待检透镜中心且垂直待检透镜轴线的平面为XOY平面建立坐标系。

4.如权利要求1所述的一种透镜外径误差非旋转式检测方法,其特征在于:所述的步骤2)中,在待检透镜的四周布置至少三个以上的传感器的方法为:在待检透镜水平纵向两侧布置两个连线穿过待检透镜中心的传感器,在待检透镜水平横向两侧布置另外两个连线穿过待检透镜中心的传感器。

5.如权利要求4所述的一种透镜外径误差非旋转式检测方法,其特征在于:所述的步骤2)中,通过待检透镜横向两侧的两个透镜和纵向一侧的一个透镜的探头接触待检透镜的外径边缘、或是通过待检透镜横向两侧的两个透镜和纵向另一侧的一个透镜的探头接触待检透镜的外径边缘、或是通过待检透镜纵向两侧的两个透镜和横向一侧的一个透镜的探头接触待检透镜的外径边缘、或是通过待检透镜纵向两侧的两个透镜和横向另一侧的一个透镜的探头接触待检透镜的外径边缘。

6.如权利要求1所述的一种透镜外径误差非旋转式检测方法,其特征在于:所述的步骤2)中,计算传感器在其探头接触到待检透镜的外径边缘后探头的坐标参数A11、A12、A13的方法为:所述的传感器为可记录移动距离的位移传感器,测量前先记录传感器初始状态下探头的坐标参数A01、A02、A03,驱动传感器移动使其探头接触待检透镜的外径边缘,再记录传感器的位移值L1、L2、L3,通过坐标转换获得探头接触待检透镜外径边缘时的坐标值A11、A12、A13。

7.如权利要求6所述的一种透镜外径误差非旋转式检测方法,其特征在于:所述的驱动传感器移动使其探头接触待检透镜的外径边缘的方法为:驱动传感器使其探头沿坐标系X向或是Y向移动直至接触到待检透镜的外径边缘。

8.如权利要求1所述的一种透镜外径误差非旋转式检测方法,其特征在于:所述的步骤4)中,驱动另外三个不在同一条直线上的传感器进行第二次外径误差测量的方法为:驱动至少有一个传感器与第一次外径测量所用传感器不同的三个传感器进行第二次外径误差测量。

9.如权利要求1所述的一种透镜外径误差非旋转式检测方法,其特征在于:所述的n大于等于4。

10.如权利要求1所述的一种透镜外径误差非旋转式检测方法,其特征在于:所述的m等于1。

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