[发明专利]补光灯故障检测方法、装置、电子设备及可读存储介质有效
申请号: | 201811455749.X | 申请日: | 2018-11-30 |
公开(公告)号: | CN111260604B | 公开(公告)日: | 2023-09-19 |
发明(设计)人: | 李振;祝玉宝;郭浩龙 | 申请(专利权)人: | 浙江宇视科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00;H04N23/74 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 葛松生 |
地址: | 310000 浙江省杭州市滨江区西兴街道江陵路*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 补光灯 故障 检测 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
1.一种补光灯故障检测方法,其特征在于,应用于电子设备,所述电子设备中设有第一通道和第二通道,该通道用于采集图像,其中所述第一通道不启用补光灯,所述第二通道启用补光灯,所述方法包括:
在第一检测周期内,通过所述第一通道和所述第二通道分别对被检测区域的图像进行N次获取,其中,N为大于等于1的整数;
针对每次获取的图像,分析获得通过所述第一通道获取到的该图像的第一亮度信息,分析获得通过所述第二通道获取到的该图像的第二亮度信息;
针对每次获取的图像,获取该图像的第一曝光参数和第二曝光参数;
针对每次获取的图像,对该图像的第一曝光参数和第二曝光参数进行归一化处理,获取该图像的归一化比值;
使用设定的检测模型,基于所述归一化比值、所述第一亮度信息和所述第二亮度信息获取亮度比值,以通过所述亮度比值进行故障检测,并输出检测结果。
2.根据权利要求1所述的补光灯故障检测方法,其特征在于,所述被检测区域包括多个区块;
在第一检测周期内,通过所述第一通道和所述第二通道分别对被检测区域的图像进行N次获取的步骤,包括:
在第一检测周期内,通过所述第一通道和所述第二通道分别对所述被检测区域的每个区块的图像进行N次获取;
针对每次获取的图像,分析获得通过所述第一通道获取到的该图像的第一亮度信息,分析获得通过所述第二通道获取到的该图像的第二亮度信息的步骤,包括:
针对每次获取的图像的每个区块,分析获得通过所述第一通道获取到的该图像中每个区块的第一亮度信息,分析获得通过所述第二通道获取到的该图像中每个区块的第二亮度信息;
针对每次获取的图像,获取该图像的第一曝光参数和第二曝光参数的步骤,包括:
针对每次获取的图像的每个区块,获取该图像的每个区块的第一曝光参数和第二曝光参数;
针对每次获取的图像,对该图像的第一曝光参数和第二曝光参数进行归一化处理,获取该图像的归一化比值的步骤,包括:
针对每个区块的图像,对该区块的图像的所述第一曝光参数和所述第二曝光参数进行归一化处理,获取该区块的图像的归一化比值。
3.根据权利要求2所述的补光灯故障检测方法,其特征在于,使用设定的检测模型,基于所述归一化比值、所述第一亮度信息和所述第二亮度信息获取亮度比值,以通过所述亮度比值进行故障检测,并输出检测结果的步骤,包括:
对各个区块的归一化比值、所述第一亮度信息和所述第二亮度信息进行运算,获取各个区块的亮度比值;
针对每次获取到各个区块的亮度比值,统计亮度比值超出所述检测模型中与各个区块对应的预设亮度区间的区块的数目;
判断亮度比值超出所述检测模型中与各个区块对应的预设亮度区间的区块的数目是否大于预设区块数目;
若所述亮度比值超出所述检测模型中与各个区块对应的预设亮度区间的区块的数目大于预设区块数目,则判定补光灯此次运行异常并计数;
统计在所述第一检测周期内补光灯运行异常的总次数;
判断在所述第一检测周期内补光灯运行异常的总次数是否大于预设次数;
若在所述第一检测周期内补光灯运行异常的总次数大于预设次数,则判定补光灯运行故障,并输出检测结果。
4.根据权利要求3所述的补光灯故障检测方法,其特征在于,所述检测模型通过以下步骤生成:
将在所述第一检测周期之前的上一检测周期内,每次获取到的、各个区块的第一曝光参数和第二曝光参数进行所述归一化处理,获取该区块的归一化比值;
根据在所述第一检测周期之前的上一检测周期内多次获取到的、每个区块的归一化比值、第一亮度信息、第二亮度信息进行运算,获得该区块的亮度区间;
根据在所述第一检测周期之前的上一检测周期内多次获取到的各个区块的亮度区间,生成检测模型。
5.根据权利要求4所述的补光灯故障检测方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据在所述第一检测周期之前的上一检测周期内获取到的各个区块的亮度区间,生成光强分布模型,所述光强分布模型包括光照区域和非光照区域;
基于所述光强分布模型,调整所述电子设备中的补光灯的照射方向,以使所述补光灯的照射范围覆盖与所述光照区域对应的被检测区域。
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