[发明专利]一种色度计组件及色度坐标检测方法在审
申请号: | 201811456836.7 | 申请日: | 2018-11-30 |
公开(公告)号: | CN111256823A | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 马道远 | 申请(专利权)人: | 深圳市融光纳米科技有限公司 |
主分类号: | G01J3/46 | 分类号: | G01J3/46 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 钟子敏 |
地址: | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 色度计 组件 色度 坐标 检测 方法 | ||
本发明公开了一种色度计组件及色度坐标检测方法,该色度计组件包括:色度计本体,所述色度计本体包括测量头,所述测量头用于感测待测样品产生的光;光阑器,一端与所述测量头可拆卸连接,另一端接触所述待测样品,以使来自所述待测样品的光线经过所述光阑器后到所述测量头,且最大角度小于所述测量头直接接触所述待测样品情况下的光线最大角度。通过上述方式,本发明能够提高纳米结构色颜料色度坐标测量结果的准确性。
技术领域
本发明涉及色度坐标检测技术领域,特别是涉及一种色度计组件及色度坐标检测方法。
背景技术
色度计可以是通过与样板色比较来确定待测样品颜色;也可以是根据获取待测样品反射的光线的光谱来确定所述待测样品的颜色。
而对于随观测角度不同呈现不同颜色的纳米结构色晶体等待测样品,在进行颜色坐标测量时,不考虑测量角度的影响会导致测量结果错误。但常见的色度计通常不会考虑测量角度对测量结果的影响,购买高级色度计的成本较高,因此,不能采用常用的色度计对纳米结构色晶体的颜色进行准确测量。
本申请的发明人在长期的研发过程中,发现现有的色度计不能够对纳米结构色颜料的色度坐标进行准确测量。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种色度计组件及色度坐标检测方法,能够提高纳米结构色颜料色度坐标测量结果的准确性。
为解决上述技术问题,本发明采用的一个技术方案是:提供一种色度计组件。
其中,所述色度计组件包括:
色度计本体,所述色度计本体包括测量头,所述测量头用于感测待测样品产生的光;
光阑器,一端与所述测量头可拆卸连接,另一端接触所述待测样品,以使来自所述待测样品的光线经过所述光阑器后到所述测量头,且最大测量角度小于测量角度阈值。
为解决上述技术问题,本发明采用的另一个技术方案是:提供一种色度坐标检测方法。
其中,所述方法包括:
提供一色度计组件,所述色度计组件包括:色度计本体和与所述测量头可拆卸连接的光阑器,所述色度计本体包括测量头,所述光阑器与所述测量头可拆卸连接;
将所述光阑器与待测样品接触,启动所述色度计;
所述测量头接收来自所述待测样品且经过所述光阑器后到所述测量头的光线。
本发明的有益效果是:区别于现有技术的情况,本发明在现有的色度计的测量头上可拆卸的安装有一个光阑器,使得待测样品反射的光线经过所述光阑器后到达所述色度计的测量头,也即通过增加待测样品与所述色度计的测量头之间的垂直距离的方式来减小到达所述色度计的样品光线的角度,以避免采用现有的普通色度计对纳米结构色晶体的颜色进行测量时,测量角度过大对测量结果的影响,提高测量结果的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。其中:
图1是本发明一种色度计组件一实施方式的结构示意图;
图2是色度计测量色度坐标的原理示意图;
图3是图1中所述色度计组件的剖视图;
图4是本发明一种色度计组件的使用状态一实施方式的结构示意图
图5是本发明光阑器一实施方式的俯视图;
图6是图1中所述光阑器一实施方式的尺寸示意图;
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