[发明专利]一种浅层介质结构面松散程度评价方法

权利要求书

1.一种浅层介质结构面松散程度评价方法，其特征在于：包括以下步骤：1)、沿检测或勘察的介质表面布置测点；

2)、逐点激发采集每个测点处的直达波和反射波信号；

3)、对信号进行数据处理，获得测点处的直达波速度和反射波速度；

4)、按照如下公式计算该测点处介质结构面速度系数；

其中：C_v——结构面速度系数；

V_f——反射波速度；

V_z——直达波速度；

当结构面速度系数C_v小于a时，认为该测点处的介质为松散结构，当结构面速度系数C_v大于或等于a时，认为该测点处的介质为密实结构；

所述的步骤3)中，获得测点处的直达波速度的方法为，拾取直达波起跳时间，对拾取的直达波时间散点，采用直线方程进行拟合，以炮检距为自变量，直达波起跳时间为因变量，拟合的直线斜率即为直达波速度；

所述的步骤3)中，获得测点处的反射波速度的方法为，对已知深度的浅层介质界面，根据直达波速度设定速度范围，在该范围选取速度值计算该速度值下的反射波时距曲线，计算反射波时距曲线与炮集记录的最佳拟合即为反射波速度；所述的速度范围的设定方法为，根据直达波速度V_z划定速度范围为[1/2V_z，2/3V_z]。

2.如权利要求1所述的一种浅层介质结构面松散程度评价方法，其特征在于：所述的步骤1)中，按照地震反射波多次覆盖原理，在待检测或待勘察的介质表面沿线性布置测点。

3.如权利要求1所述的一种浅层介质结构面松散程度评价方法，其特征在于：所述的步骤2)中，每个测点在采集数据时，每个测点上激发一次机械波信号，每个测点上设置有多个传感器接收激发的信号，逐个测点依次进行，直至完成所有测点激发。

4.如权利要求1所述的一种浅层介质结构面松散程度评价方法，其特征在于：所述的步骤3)中，数据处理的方法，通过带通滤波器对获取数据进行处理，去除数据中的零飘和野值。

5.如权利要求1所述的一种浅层介质结构面松散程度评价方法，其特征在于：反射波时距曲线与炮集记录的最佳拟合方法为：以时距曲线为基础，设定时间窗口，将该时间窗口内的炮集记录振幅值积分求和，最大振幅能量对应的速度即为最佳拟合反射速度。

6.如权利要求5所述的一种浅层介质结构面松散程度评价方法，其特征在于：所述的时间窗口为15～30us。

7.如权利要求1所述的一种浅层介质结构面松散程度评价方法，其特征在于：所述的a的取值为0.5≤a≤0.9。