[发明专利]防止ESD器件漏电的测试电路及显示面板在审

专利信息
申请号: 201811458693.3 申请日: 2018-11-30
公开(公告)号: CN109461396A 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 戴荣磊 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 430079 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 显示面板 漏电 测试电路 开关模块 功耗 减小 申请
【权利要求书】:

1.一种防止ESD器件漏电的测试电路,用于对显示面板进行点灯测试,其特征在于,包括:

多个ESD器件,每个所述ESD器件均具有第一输入端、第二输入端以及第三输入端;

信号输入端,所述信号输入端包括第一信号输入端、第二信号输入端以及多个第三信号输入端,所述第一信号输入端与每个所述ESD器件的所述第一输入端以及所述显示面板电性连接,所述第二信号输入端与每个所述ESD器件的所述第二输入端以及所述显示面板电性连接,所述第三信号输入端与所述ESD器件一一对应,且所述第三输入端与相应的所述ESD器件的所述第三输入端以及所述显示面板电性连接;以及

开关模块,所述开关模块接入控制信号,并电性连接于所述信号输入端与所述显示面板,当所述显示面板没有进行点灯测试时,所述开关模块用于在所述控制信号的控制下控制所述ESD器件不再接入所述显示面板内。

2.根据权利要求1所述的防止ESD器件漏电的测试电路,其特征在于,每个所述ESD器件均包括第一晶体管和第二晶体管;

所述第一晶体管的栅极和源极均与所述第一信号输入端电性连接;所述第二晶体管的栅极和源极均与所述第二信号输入端电性连接;所述第一晶体管的漏极以及所述第二晶体管的漏极电性连接,且与相应的所述第三信号输入端电性连接。

3.根据权利要求1所述的防止ESD器件漏电的测试电路,其特征在于,所述显示面板上设置有第一信号接入点、第二信号接入点以及多个第三信号接入点;

其中,所述第一信号接入点与所述第一信号输入端连接,所述第二信号接入点与所述第二信号水端连接,所述第三信号输入点与所述第三信号输入端一一对应连接。

4.根据权利要求3所述防止ESD器件漏电的测试电路,其特征在于,所述开关模块包括第一开关单元、第二开关单元以及多个第三开关单元;

其中,所述第一开关单元设置在所述第一信号输入端与所述第一信号接入点之间;所述第二开关单元设置在所述第二信号输入端与所述第二信号接入点之间;所述第三开关单元、所述第三信号输入端以及所述第三信号接入点一一对应,且所述第三开关单元设置在相应所述第三输入端与相应所述第三信号接入点之间。

5.根据权利要求4所述的防止ESD器件漏电的测试电路,其特征在于,所述第一开关单元包括第三晶体管,所述第三晶体管的栅极与所述控制信号电性连接,所述第三晶体管的源极与所述第一信号输入端电性连接,所述第三晶体管的漏极与所述第一信号接入点电性连接;

所述第二开关单元包括第四晶体管,所述第四晶体管的栅极与所述控制信号电性连接,所述第四晶体管的源极与所述第二信号输入端电性连接,所述第四晶体管的漏极与所述第二信号接入点电性连接;

每个所述第三开关单元均包括第五晶体管,所述第五晶体管的栅极与所述控制信号电性连接,所述第五晶体管的源极与相应所述第三信号输入端电性连接,所述第五晶体管的漏极与相应所述第三信号接入点电性连接。

6.根据权利要求3所述的防止ESD器件漏电的测试电路,其特征在于,所述第一信号输入端以及每个所述ESD器件的所述第一输入端串联设置;所述第二信号输入端以及每个所述ESD器件的所述第二输入端串联设置。

7.根据权利要求6所述的防止ESD器件漏电的测试电路,其特征在于,所述开关模块包括第六晶体管;

所述第一信号接入点以及与所述第一信号接入点相邻的所述ESD器件的所述第一输入端之间设置有一个第六晶体管,相邻所述ESD器件的所述第一输入端之间设置有一个第六晶体管;

所述第二信号接入点以及与所述第二信号接入点相邻的所述ESD器件的所述第二输入端之间设置有一个第六晶体管,相邻所述ESD器件的所述第二输入端之间设置有一个第六晶体管。

8.根据权利要求1所述的防止ESD器件漏电的测试电路,其特征在于,所述第一信号输入端接入的信号为高电平信号,所述第二信号输入端接入的信号为低电平信号。

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