[发明专利]一种获得亲水性表面的抛光硅片加工方法有效

专利信息
申请号: 201811462180.X 申请日: 2018-11-30
公开(公告)号: CN111251163B 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 史训达;林霖;刘云霞;周莹莹;徐继平;王磊;李奇;杨少昆;程凤伶;刘佐星 申请(专利权)人: 有研半导体材料有限公司
主分类号: B24B29/02 分类号: B24B29/02;B24B51/00;B24B57/02;C09G1/02
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 刘秀青
地址: 101300 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 获得 亲水性 表面 抛光 硅片 加工 方法
【权利要求书】:

1.一种获得亲水性表面的抛光硅片加工方法,其特征在于,该方法包括利用抛光布、抛光液对硅片进行化学机械抛光处理的过程,该过程包括粗抛步骤、中抛步骤和精抛步骤;粗抛步骤、中抛步骤和精抛步骤分别按四个阶段进行,其中,第一阶段至第三阶段均采用抛光液抛光,第四阶段均采用纯水进行抛光;中抛步骤和精抛步骤中采用相同的研磨剂,所采用的研磨剂为平均粒径在3-80nm的SiO2颗粒的碱性抛光液,胶体状抛光原液用纯水进行稀释,稀释比例为1:(20-100);精抛步骤的第四阶段抛光时间控制在0-15s;在完成精抛步骤后,立即将抛光硅片浸泡到含有0.02%~1%表面活性剂的纯水中,浸泡时间大于2min,纯水的温度控制在13-18℃。

2.根据权利要求1所述的获得亲水性表面的抛光硅片加工方法,其特征在于,中抛步骤和精抛步骤采用的研磨剂中含有分子量为400,000以上的水溶性纤维素、以及氨的碱性化合物。

3.根据权利要求1所述的获得亲水性表面的抛光硅片加工方法,其特征在于,在中抛步骤中,抛光液流量为4-10L/min;第二阶段的抛光压力控制在150-250g/cm2,第二阶段的抛光机的大盘与抛光头转速均控制在30-50rpm,第二阶段的抛光时间控制在3-12min;第四阶段纯水抛光时间为0.5-2min,纯水流量为4-15L/min。

4.根据权利要求1所述的获得亲水性表面的抛光硅片加工方法,其特征在于,所述精抛步骤中所采用的精抛光布在使用前进行活化处理,该活化处理为:将精抛步骤中所采用的抛光液打到抛光布上,用一个尼龙刷盘对精抛光布进行刷布,刷布时抛光机的大盘与抛光头转速均控制在15~40rpm之间,用抛光液刷布的时间控制在10-120min,关闭抛光液,用纯水进行刷布2min后即可完成精抛光布的活化处理。

5.根据权利要求1所述的获得亲水性表面的抛光硅片加工方法,其特征在于,所述精抛步骤的各阶段温度控制在17-30℃,抛光机的大盘与抛光头转速均控制在15-40rpm,第二阶段的抛光压力控制在50-150g/cm2

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