[发明专利]一种快速预测小麦烘焙品质的检测方法在审

专利信息
申请号: 201811462616.5 申请日: 2018-12-03
公开(公告)号: CN109580525A 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: 王继进;耿丽娜 申请(专利权)人: 益海嘉里(兖州)粮油工业有限公司
主分类号: G01N21/3563 分类号: G01N21/3563;G01N21/359
代理公司: 青岛高晓专利事务所(普通合伙) 37104 代理人: 黄晓敏
地址: 272000 *** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 烘焙 小麦 快速预测 检测 扫描 光谱数据预处理 检测技术领域 近红外光谱仪 预处理 预测集样本 光谱信息 红外校正 红外仪器 品质预测 小麦检测 小麦品质 样本光谱 光谱图 国标法 校正集 无损 判定 样本 采集 筛选 预测 分析
【权利要求书】:

1.一种快速预测小麦烘焙品质的检测方法,其特征在于:包括如下步骤:收集小麦样本、小麦样本光谱采集、光谱数据预处理、国标法检测小麦烘焙效果、校正集和预测集样本的选取、烘焙品质预测模型的建立与筛选和小麦检测分析。

2.如权利要求1所述的一种快速预测小麦烘焙品质的检测方法,其特征在于:所述收集小麦样品的步骤包括:采集不同年份、不同品质的小麦样品。

3.如权利要求2所述的一种快速预测小麦烘焙品质的检测方法,其特征在于:所述小麦样本光谱采集的步骤包括:室温25°±1°条件下,用近红外光谱仪,在波长1000-1800nm近红外光谱范围内,共计800个光谱点,每隔1nm采集反射光的强度,每个装样样品在近红外光谱仪内重复扫描50次,贮存于计算机内取平均值,为减小装样误差,每份样品均经过混匀后再经2次装样扫描并收集光谱数据,即每个样品均收集2份光谱数据,最终计算每份样品的平均光谱。

4.如权利要求3所述的一种快速预测小麦烘焙品质的检测方法,其特征在于:每次装样量为120g,样品池为圆柱形,直径12cm,高度1.5cm。

5.权利要求4所述的一种快速预测小麦烘焙品质的检测方法,其特征在于:所述光谱数据预处理步骤包括:利用均值中心化、标准化、Savitzky-Golay导数、差分求导、Savitzky-Golay平滑、标准正态变量变换(SNV)、多元散射校正(MSC)、去趋势校正(DT)、基线校正等预处理方法分别对光谱数据进行预处理。

6.权利要求5所述的一种快速预测小麦烘焙品质的检测方法,其特征在于:所述国标法检测小麦烘焙效果的步骤包括:参照《GBT14611-2008粮油检验小麦粉面包烘焙品质试验直接发酵法》制作方法制作面包,将430g面团放入吐司盒,醒发箱温度40℃、相对湿度85-90%,醒发2.5h,然后放入烤箱烘焙,烤箱温度上火160℃、下火230℃,烤制25min,吐司出炉后测量面包高度,取双实验样品的算术平均值作为测定结果,以吐司面包高度作为该小麦的评价指标。

7.权利要求6所述的一种快速预测小麦烘焙品质的检测方法,其特征在于:所述校正集和预测集样本的选取的步骤包括:使用Kennard-Stone算法将小麦样本进行分样,得到校正集样本和预测集样本。

8.权利要求7所述的一种快速预测小麦烘焙品质的检测方法,其特征在于:所述烘焙品质预测模型的建立与筛选的步骤包括:对于校正集小麦样本,在全光谱范围内构建PLS(偏最小二乘法回归分析)模型,分别实验8种不同光谱预处理方法对PLS模型的影响,在得到的校正模型中,通过SEC(校正集标准差)、SECV(K-fold交互检验检验集标准差)、RC(校正集预测值与真实值相关系数)、RPDC(性质值方差),筛选得到小麦烘焙效果-方包高度近红外光谱校正模型。

9.权利要求8所述的一种快速预测小麦烘焙品质的检测方法,其特征在于:所述小麦检测分析的步骤包括:收集待测小麦,在相同条件下,采集待测小麦近红外光谱图,运用优化的光谱预处理方法,用所构建的最优近红外校正模型检测待测小麦,即可得到小麦烘焙效果方包高度数值。

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