[发明专利]一种适用于真空器件的加速贮存试验方法

说明书

本发明公开一种适用于真空器件的加速贮存试验方法，首先对产品贮存失效模式和失效机理进行统计分析，结合同类产品贮存失效模式统计结果，确定真空器件的贮存敏感应力；然后开展真空器件的加速贮存预试验，对真空器件贮存敏感应力的极限及可加速性进行摸底，从而制定真空器件的加速贮存试验方案，试验方案包含试验样本数、应力水平、应力施加方式、测试周期、测试方法、测试参数、试验时间等内容。加速贮存试验实施时，将环境应力通过试验设备施加到产品上，并对产品进行定期检测；最后对测试数据进行处理，采用回归分析的方法得到真空器件的退化方程，并基于其寿命服从威布尔分布的前提，对真空器件的贮存可靠度进行评估。通过加速贮存方法，能够保证在较短的时间内得到真空器件的性能退化数据，达到对真空器件的贮存可靠度进行评估的目的。

技术领域

本发明涉及一种加速贮存试验方法,特别是一种适用于真空器件的加速贮存试验方法。

背景技术

真空器件主要应用于发射机等大功率产品，部分产品应用环境为长期贮存，一次使用，要求贮存可靠性高，但对真空器件的贮存寿命和长期贮存可靠性一直缺乏相关数据，因此很难进行评估。真空器件主要的失效机理是延长贮存时间导致真空度降低，如果真空度不断降低，则最终将会引起器件在贮存期间寿命的失效，这一失效机理也预示了器件非工作失效率随时间的延长而增加。常规的恒定应力加速贮存试验方法需要样本量大，时间长，并不适用于费用和可靠性高的真空器件的贮存可靠度评估。

发明内容

本发明目的在于提供一种适用于真空器件的加速贮存试验方法，解决真空器件贮存可靠性难评估的问题。

有鉴于此，本发明提供的技术方案是：一种适用于真空器件的加速贮存试验方法，其特征在于，包括：

首先，对产品贮存失效模式和失效机理进行统计分析，结合同类产品贮存失效模式统计结果，确定真空器件的贮存敏感应力；

然后，开展真空器件的加速贮存预试验，对真空器件贮存敏感应力的极限及可加速性进行摸底，制定真空器件的加速贮存试验方案，获得测试数据；

最后，对所述测试数据进行处理，采用回归分析的方法得到真空器件的退化方程，并基于其寿命服从威布尔分布的前提，对真空器件的贮存可靠度进行评估。

本发明具有以下显著的有益效果：

实现简单，包括：首先，对产品贮存失效模式和失效机理进行统计分析，结合同类产品贮存失效模式统计结果，确定真空器件的贮存敏感应力；然后，开展真空器件的加速贮存预试验，对真空器件贮存敏感应力的极限及可加速性进行摸底，制定真空器件的加速贮存试验方案，获得测试数据；最后，对所述测试数据进行处理，采用回归分析的方法得到真空器件的退化方程，并基于其寿命服从威布尔分布的前提，对真空器件的贮存可靠度进行评估。按照本方法制定真空器件的加速贮存试验条件，能够保证在较短的时间内得到真空器件的性能退化数据，达到对真空器件的贮存可靠度进行评估的目的。电子器件也可以参照此方法进行，适应性广泛。

附图说明

图1为本发明适用于真空器件的加速贮存试验方法的流程图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明，根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需要说明的是，附图均采用非常简化的形式且均适用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。

需要说明的是，为了清楚地说明本发明的内容，本发明特举多个实施例以进一步阐释本发明的不同实现方式，其中，该多个实施例是列举式而非穷举式。此外，为了说明的简洁，前实施例中已提及的内容往往在后实施例中予以省略，因此，后实施例中未提及的内容可相应参考前实施例。